本文關鍵詞：標準電容器的溫度系數(shù)試驗　出處：《電測與儀表》2015年S1期 　論文類型：期刊論文

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【摘要】：作為實物計量器具的標準電容器,環(huán)境溫度的變化是引起其容量變化的主要因素。依據(jù)JJG183-1992《標準電容器檢定規(guī)程》,對標準電容器進行了溫度系數(shù)試驗,驗證了不同介質(zhì)材料制造的標準電容器的溫度特性,為標準電容器的檢定校準工作提供了試驗依據(jù)。
[Abstract]:As the standard capacitor of physical measurement instrument, the change of ambient temperature is the main factor that causes its capacity change. According to JJG183-1992, the verification regulation of standard capacitor. The temperature coefficient of the standard capacitor is tested to verify the temperature characteristics of the standard capacitor made of different dielectric materials, which provides the test basis for the calibration of the standard capacitor.
【作者單位】： 中國計量科學研究院;成都開譜電子科技有限公司;
【分類號】：TM53
【正文快照】： 0引言作為實物器具的標準電容器,其主要性能指標包括穩(wěn)定性好、受環(huán)境影響要小、介質(zhì)損耗小、絕緣電阻高和漏電流小等。其中,環(huán)境溫度的變化是影響電容量值穩(wěn)定的主要因素,在JJG183-1992《標準電容器檢定規(guī)程》中,詳細地規(guī)定了不同準確度級別標準電容器應具有的溫度系數(shù)指標[1

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本文編號：1434983