基于機(jī)器視覺(jué)的永磁鐵氧體磁鐵轉(zhuǎn)子表面缺陷檢測(cè)方法研究
本文關(guān)鍵詞:基于機(jī)器視覺(jué)的永磁鐵氧體磁鐵轉(zhuǎn)子表面缺陷檢測(cè)方法研究,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
【摘要】:永磁鐵氧體磁鐵轉(zhuǎn)子是潛水泵、過(guò)濾器、排水泵、同步馬達(dá)電機(jī)等產(chǎn)品重要組成部件,對(duì)其表面質(zhì)量檢測(cè)至關(guān)重要。目前,工廠對(duì)于永磁鐵氧體磁鐵轉(zhuǎn)子表面質(zhì)量的檢測(cè)完全是依賴于人眼識(shí)別,這種檢測(cè)方式存在易受環(huán)境影響、效率低下,成本高,不可實(shí)時(shí)工作等缺點(diǎn),基于此種情況,本文提出一套基于機(jī)器視覺(jué)的永磁鐵氧體磁鐵轉(zhuǎn)子缺陷檢測(cè)方法,主要工作內(nèi)容概括如下:(1)設(shè)計(jì)了雙向低角度照明方式,實(shí)現(xiàn)了磁鐵轉(zhuǎn)子表面高清成像;提出了剔除磁鐵轉(zhuǎn)子兩端“白條”方法,有效克服了“白條”帶來(lái)偽邊緣信息和大數(shù)據(jù)量等問(wèn)題;設(shè)計(jì)了磁鐵轉(zhuǎn)子表面檢測(cè)的平臺(tái)機(jī)構(gòu),并對(duì)工業(yè)相機(jī)、鏡頭、光源的選型進(jìn)行了分析,同時(shí)合理設(shè)置了系統(tǒng)硬件參數(shù),通過(guò)大量的實(shí)驗(yàn)對(duì)比,論證了硬件平臺(tái)設(shè)計(jì)的合理性。(2)提出了基于多尺度邊緣檢測(cè)的算法,實(shí)現(xiàn)了目標(biāo)區(qū)域邊緣的準(zhǔn)確檢測(cè),解決了噪聲下圖像邊緣精準(zhǔn)采集的難題。首先對(duì)圖像進(jìn)行正交小波變換,得到不同尺度的高頻系數(shù)和低頻系數(shù);接著在每個(gè)尺度里根據(jù)高頻系數(shù)的局部與全局特征信息來(lái)剔除背景與噪聲點(diǎn),同時(shí)保留高頻區(qū)域點(diǎn);對(duì)最低尺度的近似系數(shù)置0,然后重構(gòu)圖像;最后運(yùn)用雙閾值處理重構(gòu)的圖像,增強(qiáng)邊緣的連接性。實(shí)驗(yàn)表明,本方法對(duì)磁鐵轉(zhuǎn)子邊緣檢測(cè)具有較好的魯棒性。此外,采用了基于數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)的邊緣細(xì)化方法,實(shí)現(xiàn)了目標(biāo)邊緣的細(xì)化。(3)分析了磁鐵轉(zhuǎn)子表面缺陷特征,制定了缺陷識(shí)別整體算法。為解決識(shí)別掉角缺陷問(wèn)題,基于其位置形狀等先驗(yàn)知識(shí),提出了識(shí)別掉角的方法;對(duì)于凹坑、裂紋、劃痕、凸物等缺陷,根據(jù)其形態(tài)特征、灰度特征、投影特征特點(diǎn),采用了主成分分析法進(jìn)行數(shù)據(jù)降維,制定了相應(yīng)的向無(wú)環(huán)圖支持向量機(jī)識(shí)別算法,解決了缺陷分類問(wèn)題,實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了其有效性。本文提出了基于機(jī)器視覺(jué)的永磁鐵氧體磁鐵轉(zhuǎn)子缺陷檢測(cè)方法,基于磁鐵轉(zhuǎn)子的形狀,顏色,大小等先驗(yàn)知識(shí),研制了系統(tǒng)圖像采集平臺(tái)和設(shè)計(jì)了系統(tǒng)軟件算法,分析了實(shí)驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù),最后設(shè)計(jì)了一套人機(jī)交互界面,論證了系統(tǒng)方法的可行性。
【關(guān)鍵詞】:磁鐵轉(zhuǎn)子 表面檢測(cè) 多尺度邊緣檢測(cè) 目標(biāo)識(shí)別
【學(xué)位授予單位】:電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號(hào)】:TP391.41;TM277
【目錄】:
- 摘要5-6
- ABSTRACT6-10
- 第一章 緒論10-18
- 1.1 課題背景10-14
- 1.1.1 引言10-11
- 1.1.2 基于機(jī)器視覺(jué)技術(shù)國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀11-14
- 1.2 課題來(lái)源、研究意義及技術(shù)指標(biāo)14-15
- 1.3 磁鐵轉(zhuǎn)子表面檢測(cè)系統(tǒng)關(guān)鍵問(wèn)題15-16
- 1.4 本文內(nèi)容章節(jié)安排16-17
- 1.5 本章小結(jié)17-18
- 第二章 永磁鐵氧體磁鐵轉(zhuǎn)子圖像的獲取18-35
- 2.1 系統(tǒng)硬件平臺(tái)的搭建18-19
- 2.2 永磁鐵氧體磁鐵轉(zhuǎn)子常見(jiàn)缺陷分析19-21
- 2.3 采集系統(tǒng)參數(shù)計(jì)算21-23
- 2.4 圖像采集系統(tǒng)的搭建23-28
- 2.4.1 相機(jī)的選型23-25
- 2.4.2 鏡頭的選型25
- 2.4.3 光源的選型25-28
- 2.5 表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)照明方案的設(shè)計(jì)28-34
- 2.5.1 常見(jiàn)照明方案分析29-32
- 2.5.2 系統(tǒng)照明方案的確定32-34
- 2.6 本章小結(jié)34-35
- 第三章 缺陷圖像預(yù)處理與邊緣檢測(cè)35-54
- 3.1 圖像預(yù)處理35-45
- 3.1.1 剔除轉(zhuǎn)子兩端白色豎條狀區(qū)域36-38
- 3.1.2 圖像濾波處理38-45
- 3.2 缺陷邊緣檢測(cè)45-50
- 3.2.1 引言45
- 3.2.2 基于多尺度邊緣檢測(cè)的算法研究45-50
- 3.3 基于數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)的邊緣細(xì)化50-53
- 3.3.1 數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)基本概念和運(yùn)算51-52
- 3.3.2 形態(tài)學(xué)細(xì)化運(yùn)算及應(yīng)用52-53
- 3.4 本章小結(jié)53-54
- 第四章 缺陷特征提取與識(shí)別54-75
- 4.1 缺陷區(qū)域的跟蹤54-55
- 4.2 缺陷特征提取與降維55-61
- 4.2.1 形態(tài)特征提取56-58
- 4.2.2 灰度特征提取58-59
- 4.2.3 投影特征提取59-61
- 4.3 缺陷特征數(shù)據(jù)降維分析61-66
- 4.3.1 基于主成分分析法的數(shù)據(jù)降維61-63
- 4.3.2 PCA算法的應(yīng)用63-66
- 4.4 缺陷識(shí)別算法分析66-74
- 4.4.1 引言66-67
- 4.4.2 基于支持向量機(jī)算法識(shí)別分析67-69
- 4.4.3 缺陷識(shí)別多分類問(wèn)題69-71
- 4.4.4 本文識(shí)別模型的選擇71-72
- 4.4.5 參數(shù)的確定72-74
- 4.5 本章小結(jié)74-75
- 第五章 磁鐵轉(zhuǎn)子表面缺陷檢測(cè)方法的實(shí)現(xiàn)75-81
- 5.1 系統(tǒng)開(kāi)發(fā)環(huán)境75-77
- 5.2 軟件平臺(tái)的實(shí)現(xiàn)77-78
- 5.3 實(shí)驗(yàn)分析78-79
- 5.4 本章小結(jié)79-81
- 第六章 總結(jié)與展望81-83
- 6.1 全文總結(jié)81
- 6.2 工作展望81-83
- 致謝83-84
- 參考文獻(xiàn)84-87
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