合成試驗(yàn)方法是考核高壓斷路器是否具有可靠開斷能力的重要手段,為保證其與直接試驗(yàn)的等價性,需要在電流過零點(diǎn)前某一設(shè)定時刻準(zhǔn)確地投入電壓回路和延弧回路,并且在斷路器中產(chǎn)生符合試驗(yàn)要求的燃弧時間,這對合成試驗(yàn)的控制方法提出了較高的要求。另外,隨著三相共箱式斷路器的發(fā)展,其開斷性能需要在三相回路中進(jìn)行考核,控制更加復(fù)雜、更加困難,所以對三相合成試驗(yàn)控制系統(tǒng)的研究是非常有必要的。因此,本文從合成試驗(yàn)基本原理出發(fā),設(shè)計(jì)了一套三相合成試驗(yàn)控制系統(tǒng)。文中對合成試驗(yàn)的工作過程和回路結(jié)構(gòu)進(jìn)行了詳細(xì)介紹,并且通過分析三相合成試驗(yàn)對電壓回路、延弧回路以及燃弧時間的控制要求,明確三相合成試驗(yàn)的控制任務(wù),并且通過建立模型以及參數(shù)仿真的方法,對相應(yīng)的控制策略進(jìn)行了分析和研究。根據(jù)合成試驗(yàn)控制信號的性質(zhì),將三相合成試驗(yàn)控制系統(tǒng)分為三個部分分別進(jìn)行設(shè)計(jì),包括:上位機(jī)、時序控制單元、同步控制單元。為實(shí)現(xiàn)三相合成試驗(yàn)的總體控制,利用LabVIEW語言設(shè)計(jì)了合成試驗(yàn)上位機(jī)操作軟件,操作者可以在該軟件頁面進(jìn)行試驗(yàn)參數(shù)設(shè)置、控制三相合成試驗(yàn)的運(yùn)行等操作;針對多路時序控制要求,設(shè)計(jì)了以FPGA為核心的時序控制單元,通過與上位機(jī)的通...

【文章頁數(shù)】：76 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
Abstract
第1章 緒論
    1.1 研究目的及意義
    1.2 合成試驗(yàn)及其控制系統(tǒng)的研究現(xiàn)狀
        1.2.1 合成試驗(yàn)研究現(xiàn)狀
        1.2.2 合成試驗(yàn)控制系統(tǒng)研究現(xiàn)狀
    1.3 本文主要研究內(nèi)容
第2章 三相合成試驗(yàn)基本原理及其控制方法研究
    2.1 合成試驗(yàn)的基本原理
    2.2 合成試驗(yàn)的工作過程分析與研究
    2.3 三相合成試驗(yàn)同步控制單元的控制方法研究
        2.3.1 電壓回路和延弧回路的控制要求
        2.3.2 電壓回路和延弧回路的控制方法研究
    2.4 三相合成試驗(yàn)時序控制單元的控制方法研究
        2.4.1 三相合成試驗(yàn)的燃弧時間要求
        2.4.2 三相合成試驗(yàn)的時序控制方法
    2.5 三相合成試驗(yàn)控制系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)思想
    2.6 本章小結(jié)
第3章 三相合成試驗(yàn)控制系統(tǒng)上位機(jī)設(shè)計(jì)
    3.1 上位機(jī)軟件總體結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
    3.2 主界面
    3.3 參數(shù)輸入模塊
    3.4 通信模塊
    3.5 參數(shù)預(yù)覽與數(shù)據(jù)庫存儲模塊
    3.6 通道校驗(yàn)?zāi)K
    3.7 本章小結(jié)
第4章 三相合成試驗(yàn)控制系統(tǒng)時序控制單元設(shè)計(jì)
    4.1 時序控制單元總體設(shè)計(jì)思想
    4.2 時序控制單元硬件設(shè)計(jì)
        4.2.1 FPGA最小系統(tǒng)
        4.2.2 通信電路的設(shè)計(jì)
        4.2.3 電壓過零檢測電路的設(shè)計(jì)
    4.3 時序控制部分程序設(shè)計(jì)
        4.3.1 通信模塊
        4.3.2 數(shù)據(jù)解析模塊
        4.3.3 時序脈沖生成模塊
    4.4 時序控制部分的仿真分析
    4.5 本章小結(jié)
第5章 三相合成試驗(yàn)控制系統(tǒng)同步控制單元設(shè)計(jì)
    5.1 同步控制部分總體設(shè)計(jì)思想
    5.2 短路電流零點(diǎn)預(yù)測算法
        5.2.1 遞推最小二乘算法原理
        5.2.2 算法仿真的基本條件設(shè)定
        5.2.3 電流頻率偏移影響分析
        5.2.4 噪聲影響仿真與優(yōu)化
    5.3 同步控制部分硬件設(shè)計(jì)
        5.3.1 DSP最小系統(tǒng)
        5.3.2 A/D轉(zhuǎn)換模塊
        5.3.3 信號調(diào)理電路
    5.4 同步控制部分程序設(shè)計(jì)
        5.4.1 電流采集模塊
        5.4.2 零點(diǎn)預(yù)測模塊
    5.5 同步控制單元的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)
    5.6 本章小結(jié)
第6章 結(jié)論
參考文獻(xiàn)
在學(xué)研究成果
致謝



本文編號：3873621