開(kāi)關(guān)電源應(yīng)用廣泛,其可靠性也備受關(guān)注,如何在考慮經(jīng)濟(jì)成本的情況下,盡量提高開(kāi)關(guān)電源的可靠性,成為企業(yè)十分關(guān)心的問(wèn)題。本文以伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)開(kāi)關(guān)電源為研究對(duì)象,分析其故障原因,確定易故障元器件,對(duì)故障進(jìn)行仿真重現(xiàn);構(gòu)建元器件退化模型,同時(shí)考慮容差和退化效應(yīng),構(gòu)建快速計(jì)算模型,進(jìn)行開(kāi)關(guān)電源可靠性分析;對(duì)電路進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì),降低開(kāi)關(guān)電源失效率,最終形成一套對(duì)開(kāi)關(guān)電源可靠性進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)的完整方法。首先,對(duì)開(kāi)關(guān)電源的失效率和失效機(jī)理進(jìn)行分析。統(tǒng)計(jì)失效率,確定失效率高的元器件,分析電路原理,確定失效機(jī)理、判斷故障原因;基于實(shí)物電路,對(duì)故障原因進(jìn)行驗(yàn)證,確定基于退化與容差的失效分析思路;搭建仿真模型,進(jìn)行故障仿真重現(xiàn),對(duì)上述失效機(jī)理進(jìn)行驗(yàn)證,并監(jiān)測(cè)分析電源各位置應(yīng)力,確定電源中的關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)。其次,綜合考慮元器件容差與退化,對(duì)開(kāi)關(guān)電源的可靠性進(jìn)行分析。構(gòu)建元器件退化模型;根據(jù)之前獲得的失效率統(tǒng)計(jì)結(jié)果與失效機(jī)理分析,基于正交表,對(duì)電源進(jìn)行靈敏度分析,確定靈敏度高的關(guān)鍵元器件;基于搭建的仿真模型與靈敏度分析結(jié)果,通過(guò)多次仿真,確定靈敏元器件參數(shù)與關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)應(yīng)力間的映射關(guān)系,構(gòu)建開(kāi)關(guān)電源的快速計(jì)算模型;基于應(yīng)力一...

【文章頁(yè)數(shù)】：92 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
第1章 緒論
    1.1 課題來(lái)源
    1.2 課題研究的目的和意義
    1.3 課題的國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
        1.3.1 基于EDA的故障建模與分析國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
        1.3.2 基于元件退化的可靠性分析國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
        1.3.3 可靠性優(yōu)化國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
        1.3.4 國(guó)內(nèi)外文獻(xiàn)綜述
    1.4 本文主要研究?jī)?nèi)容
第2章 開(kāi)關(guān)電源失效模式與失效機(jī)理分析
    2.1 引言
    2.2 開(kāi)關(guān)電源失效模式分析
        2.2.1 開(kāi)關(guān)電源原理分析
        2.2.2 故障數(shù)據(jù)收集及分析
        2.2.3 故障原因驗(yàn)證
    2.3 開(kāi)關(guān)電源Saber仿真建模與分析
    2.4 開(kāi)關(guān)電源失效機(jī)理仿真分析
    2.5 本章小結(jié)
第3章 考慮退化的開(kāi)關(guān)電源可靠性分析
    3.1 引言
    3.2 開(kāi)關(guān)電源元器件退化模型
        3.2.1 MOSFET退化模型
        3.2.2 光電耦合器退化模型
        3.2.3 其他元器件退化模型
    3.3 開(kāi)關(guān)電源設(shè)計(jì)參數(shù)靈敏度分析
        3.3.1 靈敏度分析方法選擇
        3.3.2 正交表設(shè)計(jì)
        3.3.3 靈敏度計(jì)算
    3.4 開(kāi)關(guān)電源近似建模
        3.4.1 近似建模實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)
        3.4.2 近似建模方法比較
        3.4.3 近似建模結(jié)果評(píng)估
    3.5 基于應(yīng)力強(qiáng)度干涉的元器件可靠性分析
    3.6 開(kāi)關(guān)電源系統(tǒng)時(shí)變可靠性分析
    3.7 本章小結(jié)
第4章 開(kāi)關(guān)電源可靠性優(yōu)化設(shè)計(jì)
    4.1 引言
    4.2 開(kāi)關(guān)電源可靠性優(yōu)化準(zhǔn)則
    4.3 基于粒子群算法的開(kāi)關(guān)電源可靠性優(yōu)化
    4.4 開(kāi)關(guān)電源可靠性優(yōu)化效果評(píng)估
    4.5 本章小結(jié)
結(jié)論
參考文獻(xiàn)
攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的論文及其他成果
致謝



本文編號(hào)：3847349