基于嵌入式系統(tǒng)的納安表的設(shè)計(jì)
發(fā)布時(shí)間:2022-01-27 04:15
隨著現(xiàn)代科技的發(fā)展,對微弱電流信號(hào)的檢測越發(fā)重要,其檢測技術(shù)更是被廣泛應(yīng)用在科學(xué)研究、物理學(xué)、電磁學(xué)等諸多技術(shù)領(lǐng)域,對推動(dòng)相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展具有重要意義。這樣,作為測量用的電流表的地位就顯得舉足輕重,特別是高精度的微弱電流測量儀更是發(fā)揮著極其重要的作用。本課題利用微弱電流檢測技術(shù),設(shè)計(jì)了一款高精度的納安表,實(shí)現(xiàn)了對納安級微弱電流的高精度測量。論文首先對研究背景和國內(nèi)外研究現(xiàn)狀進(jìn)行了介紹,然后根據(jù)納安表的設(shè)計(jì)要求提出了一種基于ARM+FPGA的納安表總體設(shè)計(jì)方案,并詳細(xì)介紹了系統(tǒng)的硬件電路設(shè)計(jì)、軟件設(shè)計(jì)及數(shù)據(jù)處理方法。本論文的具體工作內(nèi)容如下:1.納安表系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)。本課題將硬件系統(tǒng)分成若干個(gè)功能模塊進(jìn)行單獨(dú)設(shè)計(jì),最后將各功能模塊連接成一個(gè)完整的硬件系統(tǒng)。硬件電路設(shè)計(jì)主要包括數(shù)據(jù)處理及控制電路設(shè)計(jì)、信號(hào)調(diào)理電路設(shè)計(jì)、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路設(shè)計(jì)、通訊電路設(shè)計(jì)等。2.納安表系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)。包括上位機(jī)的人機(jī)交互軟件設(shè)計(jì)和下位機(jī)的測量及校準(zhǔn)軟件設(shè)計(jì)。3.系統(tǒng)測試與驗(yàn)證。對測量系統(tǒng)的功能和性能指標(biāo)進(jìn)行測試與驗(yàn)證,同時(shí)給出系統(tǒng)測試的結(jié)果。通過對所研制納安表的測試,所設(shè)計(jì)的測量系統(tǒng)能穩(wěn)定顯示,量程手動(dòng)、自動(dòng)切換、設(shè)備...
【文章來源】:電子科技大學(xué)四川省211工程院校985工程院校教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:94 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
運(yùn)放LMC6XXX輸入電壓噪聲-頻率關(guān)系圖
第三章納安表系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)373.5.2基準(zhǔn)電壓電路設(shè)計(jì)ADC的基準(zhǔn)電壓是ADC進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換的基準(zhǔn),基準(zhǔn)電壓的抖動(dòng)會(huì)直接引起ADC的轉(zhuǎn)換誤差,因此基準(zhǔn)電壓的精度和穩(wěn)定度直接影響著ADC的采樣精度。而溫漂和電源紋波又是影響電壓基準(zhǔn)穩(wěn)定性的兩個(gè)重要和主要因素。因此,設(shè)計(jì)一款高精度、低溫漂和低電源紋波的電壓基準(zhǔn)對于高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)而言尤為重要。一方面,系統(tǒng)噪聲受基準(zhǔn)電壓的影響,另一方面,電壓基準(zhǔn)的確定也就決定了ADC采樣芯片的輸入電壓范圍。因此,需綜合考慮以上兩點(diǎn)選擇合適的基準(zhǔn)電壓。AD7768-4的基準(zhǔn)電壓可以取2.5V、4.096V、5V三種。圖3-12是在不同的基準(zhǔn)電壓下AD7768的INL(IntegralNonlinearity)誤差與輸入電壓的關(guān)系曲線[9],每組差分通道在不同基準(zhǔn)電壓下的RMS噪聲特性曲線如圖3-13所示。圖3-12不同VREF下的INL誤差與輸入電壓的關(guān)系圖3-13不同VREF值下每組差分通道的RMS噪聲
第三章納安表系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)373.5.2基準(zhǔn)電壓電路設(shè)計(jì)ADC的基準(zhǔn)電壓是ADC進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換的基準(zhǔn),基準(zhǔn)電壓的抖動(dòng)會(huì)直接引起ADC的轉(zhuǎn)換誤差,因此基準(zhǔn)電壓的精度和穩(wěn)定度直接影響著ADC的采樣精度。而溫漂和電源紋波又是影響電壓基準(zhǔn)穩(wěn)定性的兩個(gè)重要和主要因素。因此,設(shè)計(jì)一款高精度、低溫漂和低電源紋波的電壓基準(zhǔn)對于高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)而言尤為重要。一方面,系統(tǒng)噪聲受基準(zhǔn)電壓的影響,另一方面,電壓基準(zhǔn)的確定也就決定了ADC采樣芯片的輸入電壓范圍。因此,需綜合考慮以上兩點(diǎn)選擇合適的基準(zhǔn)電壓。AD7768-4的基準(zhǔn)電壓可以取2.5V、4.096V、5V三種。圖3-12是在不同的基準(zhǔn)電壓下AD7768的INL(IntegralNonlinearity)誤差與輸入電壓的關(guān)系曲線[9],每組差分通道在不同基準(zhǔn)電壓下的RMS噪聲特性曲線如圖3-13所示。圖3-12不同VREF下的INL誤差與輸入電壓的關(guān)系圖3-13不同VREF值下每組差分通道的RMS噪聲
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]射頻輻射抗擾環(huán)境中微弱信號(hào)放大電路的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證[J]. 李澍,趙東杰,蘇宗文. 中國醫(yī)療設(shè)備. 2014(09)
[2]微弱電流檢測技術(shù)分析[J]. 史凱峰,董波,徐兆北. 山東工業(yè)技術(shù). 2014(15)
[3]中國線性與開關(guān)電源的現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢分析[J]. 呂天文. 電源世界. 2011 (12)
[4]直流弱電流測量與誤差分析[J]. 賈桂華,張萍,鄧國榮. 信息與電子工程. 2009(06)
[5]如何設(shè)計(jì)一個(gè)可靠的電源[J]. 于正坤. 科技資訊. 2006(17)
[6]微弱信號(hào)的測量[J]. 胡誕康. 電子質(zhì)量. 2005(05)
[7]光電耦合器的實(shí)用技巧[J]. 李丹榮,王新第,杜維. 自動(dòng)化儀表. 2003(06)
[8]弱電流測試儀的研制[J]. 周波,蘇弘. 核電子學(xué)與探測技術(shù). 2003(01)
[9]共模干擾和差模干擾[J]. 楊繼深. 安全與電磁兼容. 2002(02)
[10]一種微電流放大器的設(shè)計(jì)與探討[J]. 周怡. 廣西物理. 1999(02)
碩士論文
[1]基于自適應(yīng)濾波的微弱信號(hào)采集模塊硬件設(shè)計(jì)[D]. 王藝璇.電子科技大學(xué) 2019
[2]微型化高精度數(shù)據(jù)采集模塊的設(shè)計(jì)[D]. 呂蒙.電子科技大學(xué) 2019
[3]多通道數(shù)據(jù)采集驗(yàn)證系統(tǒng)硬件研發(fā)[D]. 涂宏剛.浙江大學(xué) 2018
[4]手持式智能萬用表的設(shè)計(jì)[D]. 劉敏.哈爾濱理工大學(xué) 2017
[5]多路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D]. 周顯.南京理工大學(xué) 2016
[6]LXI六位半數(shù)字多用表的硬件設(shè)計(jì)[D]. 李玲.電子科技大學(xué) 2012
[7]微弱電流信號(hào)檢測系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[D]. 閆行.中北大學(xué) 2011
[8]微弱電流檢測系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D]. 佘乾順.西北師范大學(xué) 2009
[9]電流測量電路的誤差補(bǔ)償和降噪技術(shù)的研究及應(yīng)用[D]. 胡軍柯.浙江大學(xué) 2008
[10]微電流檢測方法的研究[D]. 王衛(wèi)勛.西安理工大學(xué) 2007
本文編號(hào):3611739
【文章來源】:電子科技大學(xué)四川省211工程院校985工程院校教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:94 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
運(yùn)放LMC6XXX輸入電壓噪聲-頻率關(guān)系圖
第三章納安表系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)373.5.2基準(zhǔn)電壓電路設(shè)計(jì)ADC的基準(zhǔn)電壓是ADC進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換的基準(zhǔn),基準(zhǔn)電壓的抖動(dòng)會(huì)直接引起ADC的轉(zhuǎn)換誤差,因此基準(zhǔn)電壓的精度和穩(wěn)定度直接影響著ADC的采樣精度。而溫漂和電源紋波又是影響電壓基準(zhǔn)穩(wěn)定性的兩個(gè)重要和主要因素。因此,設(shè)計(jì)一款高精度、低溫漂和低電源紋波的電壓基準(zhǔn)對于高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)而言尤為重要。一方面,系統(tǒng)噪聲受基準(zhǔn)電壓的影響,另一方面,電壓基準(zhǔn)的確定也就決定了ADC采樣芯片的輸入電壓范圍。因此,需綜合考慮以上兩點(diǎn)選擇合適的基準(zhǔn)電壓。AD7768-4的基準(zhǔn)電壓可以取2.5V、4.096V、5V三種。圖3-12是在不同的基準(zhǔn)電壓下AD7768的INL(IntegralNonlinearity)誤差與輸入電壓的關(guān)系曲線[9],每組差分通道在不同基準(zhǔn)電壓下的RMS噪聲特性曲線如圖3-13所示。圖3-12不同VREF下的INL誤差與輸入電壓的關(guān)系圖3-13不同VREF值下每組差分通道的RMS噪聲
第三章納安表系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)373.5.2基準(zhǔn)電壓電路設(shè)計(jì)ADC的基準(zhǔn)電壓是ADC進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換的基準(zhǔn),基準(zhǔn)電壓的抖動(dòng)會(huì)直接引起ADC的轉(zhuǎn)換誤差,因此基準(zhǔn)電壓的精度和穩(wěn)定度直接影響著ADC的采樣精度。而溫漂和電源紋波又是影響電壓基準(zhǔn)穩(wěn)定性的兩個(gè)重要和主要因素。因此,設(shè)計(jì)一款高精度、低溫漂和低電源紋波的電壓基準(zhǔn)對于高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)而言尤為重要。一方面,系統(tǒng)噪聲受基準(zhǔn)電壓的影響,另一方面,電壓基準(zhǔn)的確定也就決定了ADC采樣芯片的輸入電壓范圍。因此,需綜合考慮以上兩點(diǎn)選擇合適的基準(zhǔn)電壓。AD7768-4的基準(zhǔn)電壓可以取2.5V、4.096V、5V三種。圖3-12是在不同的基準(zhǔn)電壓下AD7768的INL(IntegralNonlinearity)誤差與輸入電壓的關(guān)系曲線[9],每組差分通道在不同基準(zhǔn)電壓下的RMS噪聲特性曲線如圖3-13所示。圖3-12不同VREF下的INL誤差與輸入電壓的關(guān)系圖3-13不同VREF值下每組差分通道的RMS噪聲
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]射頻輻射抗擾環(huán)境中微弱信號(hào)放大電路的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證[J]. 李澍,趙東杰,蘇宗文. 中國醫(yī)療設(shè)備. 2014(09)
[2]微弱電流檢測技術(shù)分析[J]. 史凱峰,董波,徐兆北. 山東工業(yè)技術(shù). 2014(15)
[3]中國線性與開關(guān)電源的現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢分析[J]. 呂天文. 電源世界. 2011 (12)
[4]直流弱電流測量與誤差分析[J]. 賈桂華,張萍,鄧國榮. 信息與電子工程. 2009(06)
[5]如何設(shè)計(jì)一個(gè)可靠的電源[J]. 于正坤. 科技資訊. 2006(17)
[6]微弱信號(hào)的測量[J]. 胡誕康. 電子質(zhì)量. 2005(05)
[7]光電耦合器的實(shí)用技巧[J]. 李丹榮,王新第,杜維. 自動(dòng)化儀表. 2003(06)
[8]弱電流測試儀的研制[J]. 周波,蘇弘. 核電子學(xué)與探測技術(shù). 2003(01)
[9]共模干擾和差模干擾[J]. 楊繼深. 安全與電磁兼容. 2002(02)
[10]一種微電流放大器的設(shè)計(jì)與探討[J]. 周怡. 廣西物理. 1999(02)
碩士論文
[1]基于自適應(yīng)濾波的微弱信號(hào)采集模塊硬件設(shè)計(jì)[D]. 王藝璇.電子科技大學(xué) 2019
[2]微型化高精度數(shù)據(jù)采集模塊的設(shè)計(jì)[D]. 呂蒙.電子科技大學(xué) 2019
[3]多通道數(shù)據(jù)采集驗(yàn)證系統(tǒng)硬件研發(fā)[D]. 涂宏剛.浙江大學(xué) 2018
[4]手持式智能萬用表的設(shè)計(jì)[D]. 劉敏.哈爾濱理工大學(xué) 2017
[5]多路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D]. 周顯.南京理工大學(xué) 2016
[6]LXI六位半數(shù)字多用表的硬件設(shè)計(jì)[D]. 李玲.電子科技大學(xué) 2012
[7]微弱電流信號(hào)檢測系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[D]. 閆行.中北大學(xué) 2011
[8]微弱電流檢測系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D]. 佘乾順.西北師范大學(xué) 2009
[9]電流測量電路的誤差補(bǔ)償和降噪技術(shù)的研究及應(yīng)用[D]. 胡軍柯.浙江大學(xué) 2008
[10]微電流檢測方法的研究[D]. 王衛(wèi)勛.西安理工大學(xué) 2007
本文編號(hào):3611739
本文鏈接:http://www.sikaile.net/kejilunwen/dianlidianqilunwen/3611739.html
最近更新
教材專著