基于開爾文四線法接插件接觸電阻自動測試設計與實現(xiàn)
【圖文】:
J27、J29、J30 系列接插件屬于微矩形接插件,外殼材料主要為鋁合金,插用絞線方式,引出芯數(shù)范圍為 9~200 芯,網(wǎng)格間距有 1.27×2.54、1.91×2.54、2.54×3.82×2.54 等,接觸件連接方式有壓接、焊接、直插(彎插)印制板等多種連接具有體積小、重量輕、接觸件密集度、連接可靠性高的特點,外形圖見 1.1。J27、J30 系列接插件主要用于航空、航天、船舶、兵器等軍工行業(yè),軍用產(chǎn)品決定了品要求的高可靠性,要求其關鍵參數(shù)均需進行 100%測試。其中接觸電阻是決定件產(chǎn)品性能的重要關鍵參數(shù),是產(chǎn)品裝配提交及出廠檢驗的重要測試環(huán)節(jié),需要100%測試,目前國內(nèi)對接觸電阻的測試主要采用微電阻儀進行手工測試,由于形系列接插件體積小,引出芯數(shù)較多(9~200 芯),,人工測試耗費時間較多,效率低,長時間的測試還會引起操作人員疲勞,影響測量質(zhì)量,因此研制一種能接插件接觸電阻自動測試,自動記錄的測試系統(tǒng)代替人工對接插件接觸電阻進行測試顯得非常的有必要。
圖1.3數(shù)字源表儀器、納伏表開爾文式測試接觸電阻示意圖2400 系列儀器控制恒定電流流過接插件接觸電阻,而納阻兩端恒流流過產(chǎn)生的電壓降。進行干電路測試時,先將 20mV,如果測試線較長,其兩端產(chǎn)生的電壓降會遠大于用開爾文四線法將測試線接在接插件接觸電阻兩端使接現(xiàn)在接插件接觸電阻兩端,采取該方式可忽略測試線產(chǎn)生試值的準確性。著國內(nèi)自動檢測技術的不斷發(fā)展,國內(nèi)已經(jīng)有多家公司進行研究并取得了不錯的研究成果,例如成都天奧測控技觸電阻測量控制模塊,具有 16-bit 高分辨率,最高 100K多可實現(xiàn) 64 路接觸電阻自動掃描采集能力;成都實時測T-1 多功能接觸電阻綜合測試臺,具有 16-bit 高分辨率,,每次最多也可實現(xiàn) 64 路接觸電阻掃描采集能力,并可
【學位授予單位】:西安電子科技大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2019
【分類號】:TM934.14
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本文編號:2633708
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