本文選題：π網(wǎng)絡 + 諧振頻率�。� 參考：《核電子學與探測技術》2017年03期

【摘要】：負載測試狀態(tài)的晶體元件諧振參數(shù)測試精度受測試網(wǎng)絡參數(shù)影響較大。本項目基于π網(wǎng)絡零相位法,在測試系統(tǒng)設計中引入補償網(wǎng)絡,減小π網(wǎng)絡以及測試插座的雜散阻抗對測量結果的影響。同時,在軟件設計方面,對測試系統(tǒng)進行標定,以減小系統(tǒng)誤差。測量結果表明,隨晶體的標稱頻率的增加,其負載諧振頻率的相對方均差呈逐漸增大趨勢。與目前國際上較先進的250C系統(tǒng)測量結果比較,最大測量偏差小于4×10~(-6)。但是,當晶體標稱頻率較大(100 MHz)時,系統(tǒng)重復性測量精度較差,最大偏差達10×10~(-6)。
[Abstract]:The measurement accuracy of resonant parameters of crystal elements in load test state is greatly affected by the network parameters. Based on the zero-phase method of 蟺 network, compensation network is introduced in the design of test system to reduce the influence of stray impedance of 蟺 network and test socket on the measurement results. At the same time, in software design, the test system is calibrated to reduce the system error. The results show that the relative mean square difference of the resonant frequency increases with the increase of the nominal frequency of the crystal. Compared with the results of 250C system, the maximum measurement deviation is less than 4 脳 10 ~ (-1) ~ (-6) ~ (-1). However, when the nominal frequency of the crystal is larger than 100 MHz, the repeatability of the system is poor, and the maximum deviation is 10 脳 10 ~ (-6) ~ (-1).
【作者單位】： 湖北工業(yè)大學理學院;湖北工業(yè)大學工程技術學院;
【基金】：國家自然科學基金(61475044)項目資助
【分類號】：TM935

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1 陳界東;;晶振中石英晶體的培養(yǎng)[J];硅谷;2011年22期

2 ;代替石英晶體的新材料[J];電子技術;1973年01期

3 李t，

本文編號：1868272