梳理專利地圖與TRIZ融合技術創(chuàng)新的流程,構建其影響因素指標體系。應用粗糙集理論識別專利地圖與TRIZ融合技術創(chuàng)新的關鍵影響因素,并進行實證研究。研究結果表明,粗糙集方法在定量分析處理模糊和不確定性知識方面具有優(yōu)越性;且在運用專利地圖與TRIZ融合技術創(chuàng)新方法進行技術創(chuàng)新時,專利數(shù)據(jù)源準確性、完整性,專利分析結果有效性和技術創(chuàng)新經(jīng)濟效益是影響企業(yè)技術創(chuàng)新的關鍵因素,研究結果符合企業(yè)技術創(chuàng)新實際情況。 

【文章來源】：工業(yè)工程. 2020,23(05)北大核心

【文章頁數(shù)】：6 頁


本文編號：3116320