我國專利集中度測度指標(biāo)研究
本文關(guān)鍵詞:我國專利集中度測度指標(biāo)研究
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【摘要】:進(jìn)入21世紀(jì)后,隨著經(jīng)濟(jì)全球化、知識分散化、技術(shù)融合化速度加快,企業(yè)對創(chuàng)新速度的要求越來越高,企業(yè)僅靠內(nèi)部研發(fā)已經(jīng)不能滿足市場競爭和經(jīng)濟(jì)增長的需求,于是開放式創(chuàng)新模式應(yīng)運而生。當(dāng)這種開放式創(chuàng)新模式席卷全球的時候,雖然中國知識產(chǎn)權(quán)理論已日趨完善,,但知識產(chǎn)權(quán)實務(wù)的發(fā)展遇到了前所未有的困難,即在專利叢林多如繁星的今天,如何衡量某個技術(shù)領(lǐng)域或行業(yè)內(nèi)所有專利分布情況。為了解決這一難題,本文志在通過理論和多次實證分析篩選出一套可能適用于專利領(lǐng)域中的集中度測度指標(biāo),通過這些專利集中度測度指標(biāo)就能在一定程度上有效地衡量某技術(shù)領(lǐng)域或行業(yè)內(nèi)專利集中程度。 在現(xiàn)有研究的基礎(chǔ)上,筆者分別從國外相關(guān)研究和產(chǎn)業(yè)組織學(xué)領(lǐng)域中借鑒了一系列專利集中度測度指標(biāo)。并且本文進(jìn)行了三次實證分析,分別是我國各地區(qū)專利集中、我國前50位高校專利集中情況以及美國基因芯片技術(shù)專利集中實證分析,通過這三次實證分析篩選出了一系列適于應(yīng)用在專利領(lǐng)域中的集中度測度指標(biāo)。另外,本文的創(chuàng)新之處在于,通過實證分析找到了一些國內(nèi)學(xué)者從未采用過的測度指標(biāo),如羅森布魯斯指數(shù)、漢納-凱指數(shù)、專利集中度彈性系數(shù)、帕累托系數(shù)、計算專利權(quán)人間引證關(guān)系的三角數(shù)法、破碎化指數(shù)等測度指標(biāo)。這樣便能更客觀、更全面地衡量某行業(yè)或技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的專利集中狀況,能明確行業(yè)或技術(shù)領(lǐng)域整體特點、活躍領(lǐng)域以及未來發(fā)展趨勢。除此之外,還有助于企業(yè)了解競爭對手的情況并制定良好的專利戰(zhàn)略。
【學(xué)位授予單位】:華中科技大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2011
【分類號】:G306.3
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本文編號:1277861
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