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局域表面等離激元增強ZnO薄膜發(fā)光及MSM器件光電性能研究

發(fā)布時間:2017-05-12 02:03

  本文關鍵詞:局域表面等離激元增強ZnO薄膜發(fā)光及MSM器件光電性能研究,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。


【摘要】:金屬納米顆粒獨特的局域表面等離激元共振特性,在生物醫(yī)學、材料學、光電器件方面具有良好的應用前景,成為近年來人們研究的熱點。雖然局域表面等離激元共振增強作用研究取得了一系列進展,但是在工藝簡單、效率高、形貌可控及實際應用方面還存在很大的挑戰(zhàn)。本文主要研究了利用磁控濺射法制備Au納米顆粒,以及熱退火對Au納米顆粒表面形貌、尺寸和局域表面等離激元共振特性的影響,進而將其應用于增強ZnO薄膜光致藍光發(fā)光、改善ZnO基紫外光電探測器的性能。本論文主要內容和研究結果如下: 1.采用磁控濺射法制備Au納米顆粒,研究了熱退火、濺射時間、襯底材料對形成Au納米顆粒的影響。隨著退火溫度的增加,Au薄膜由蠕蟲狀結構變成規(guī)則的顆粒,顆粒尺寸分布變均勻,間距變大;退火時間越長,,納米顆粒平均尺寸越大。對于不同濺射時間Au薄膜,經過熱退火處理,濺射時間越長的薄膜形成的納米顆粒尺寸、間距越大。另外不同的襯底也會影響Au納米顆粒的表面形貌和尺寸。通過改變這些條件實現了Au納米顆粒局域表面等離激元共振特性的調控。 2.研究了磁控濺射法制備的ZnO薄膜的基本性質,計算得到ZnO的禁帶寬度為3.27eV。ZnO薄膜在400-500nm存在缺陷發(fā)光,進而探索了Au納米顆粒局域表面等離激元共振對ZnO薄膜缺陷發(fā)光的影響。結果表明,濺射時間60s的Au NPs/ZnO復合薄膜的藍光發(fā)射強度比單純的ZnO薄膜的藍光發(fā)射強度增強了6倍。 3.分析了Au納米顆粒局域表面等離激元共振對ZnO基MSM紫外光電探測器性能的影響。結果表明,Au納米顆粒的局域表面等離激元共振明顯改善了ZnO基紫外光電探測器的性能,光電流最大增加了2.2倍,響應時間變短。
【關鍵詞】:局域表面等離激元共振 Au納米顆粒 ZnO薄膜 發(fā)光增強 光電探測器
【學位授予單位】:浙江理工大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2015
【分類號】:TB383.2
【目錄】:
  • 摘要4-5
  • Abstract5-7
  • 目錄7-10
  • 第一章 緒論10-27
  • 1.1 表面等離激元的基本特性10-13
  • 1.1.1 表面等離激元的色散關系及激發(fā)方式10-12
  • 1.1.2 表面等離激元的特征長度12-13
  • 1.2 局域表面等離激元共振(LSPR)13-16
  • 1.2.1 金屬納米顆粒的局域表面等離激元共振13-14
  • 1.2.2 局域表面等離激元共振頻率14
  • 1.2.3 影響局域表面等離激元共振的因素14-16
  • 1.3 局域表面等離激元共振的若干應用16-20
  • 1.3.1 太陽能電池領域的應用16-18
  • 1.3.2 表面增強熒光18-19
  • 1.3.3 表面增強拉曼光譜(SERS)19-20
  • 1.4 本論文的主要研究內容及目的20-22
  • 參考文獻22-27
  • 第二章 樣品的制備、表征及測試27-35
  • 2.1 樣品的制備27-29
  • 2.1.1 所需儀器及原材料27
  • 2.1.2 襯底的清洗27-28
  • 2.1.3 磁控濺射制備薄膜28-29
  • 2.1.4 管式爐退火29
  • 2.2 樣品的表征29-33
  • 2.2.1 原子力顯微鏡(AFM)29-30
  • 2.2.2 掃描電子顯微鏡(SEM)30
  • 2.2.3 X 射線衍射儀(XRD)30-32
  • 2.2.4 紫外-可見吸收光譜(UV-Vis Abs)32
  • 2.2.5 光致發(fā)光光譜(PL)32-33
  • 2.3 樣品的光電性能測試33-34
  • 參考文獻34-35
  • 第三章 Au 納米顆粒的制備及 LSPR 特性研究35-47
  • 3.1 引言35
  • 3.2 制備參數35-36
  • 3.3 Au 薄膜的厚度及晶體結構分析36-37
  • 3.4 退火對 Au 納米顆粒表面形貌和 LSPR 特性的影響37-42
  • 3.4.1 退火溫度對 Au 納米顆粒表面形貌和 LSPR 的影響37-39
  • 3.4.2 退火時間對 Au 納米顆粒表面形貌和 LSPR 的影響39-42
  • 3.5 濺射時間對 Au 納米顆粒表面形貌和 LSPR 特性的影響42-44
  • 3.6 襯底對 Au 納米顆粒表面形貌的影響44-45
  • 3.7 本章小結45-46
  • 參考文獻46-47
  • 第四章 Au NPs/ZnO 復合薄膜光學性能的研究47-59
  • 4.1 引言47-49
  • 4.1.1 ZnO 的基本性質47
  • 4.1.2 ZnO 薄膜的制備方法47-48
  • 4.1.3 ZnO 薄膜的用途48-49
  • 4.2 磁控濺射制備 ZnO 薄膜49-52
  • 4.2.1 樣品制備49
  • 4.2.2 薄膜的表面形貌和晶體結構分析49-50
  • 4.2.3 ZnO 薄膜的光學性質50-52
  • 4.3 Au NPs/ZnO 復合薄膜的制備及表征52-55
  • 4.3.1 樣品的制備52
  • 4.3.2 薄膜表面形貌及晶體結構分析52-53
  • 4.3.3 Au NPs/ZnO 復合薄膜的光學性質53-55
  • 4.4 本章小結55-57
  • 參考文獻57-59
  • 第五章 Au NPs/ZnO 復合薄膜紫外光電探測器的研究59-68
  • 5.1 引言59
  • 5.2 光電探測器原理及相關參數59-61
  • 5.2.1 工作原理59-60
  • 5.2.2 光電探測器的性能參數60-61
  • 5.3 Au NPs/ZnO 復合薄膜紫外探測器的制備和性能測試61-65
  • 5.3.1 器件的制備61
  • 5.3.2 光電性能測試61-65
  • 5.3.3 結果討論65
  • 5.4 本章小結65-67
  • 參考文獻67-68
  • 第六章 結論68-70
  • 致謝70-71
  • 碩士期間學術成果71

【參考文獻】

中國期刊全文數據庫 前10條

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1 李U

本文編號:358520


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