過程方差對產(chǎn)品質量的穩(wěn)定性有較大影響,并且過程方差穩(wěn)定性對均值控制圖的性能起著至關重要的作用,然而基于傳統(tǒng)3σ原理設計的極差控制圖與標準差控制圖存在下控制限為0的缺點,使用它們不能發(fā)現(xiàn)到過程方差變小。因此本文從等尾概率限與平均鏈長無偏理念兩個角度出發(fā),設計了 Shewhart-S2控制圖用于監(jiān)控正態(tài)總體方差的變化。由于Shewhart-S2圖在過程方差發(fā)生中小漂移時不夠敏感,本文同樣從等尾概率限與平均鏈長無偏理念兩個角度出發(fā),運用積分方程法設計了 EWMA-S2圖與CUSUM-S2圖,用于發(fā)現(xiàn)正態(tài)總體方差的變化。由于過程參數(shù)在實際生產(chǎn)過程中往往未知,并需要用第I階段樣本數(shù)據(jù)進行估計得到。不同的第I階段數(shù)據(jù)集將導致不同的參數(shù)估計值與不同的估計控制限,從而會導致不同的控制圖表現(xiàn)。實際生產(chǎn)中最為常見的情況是操作員只有一組第I階段數(shù)據(jù)集,因此研究基于這組給定的第I階段數(shù)據(jù)集所構建控制圖的表現(xiàn),即控制圖的條件表現(xiàn),更具實際意義�；跅l件平均鏈長的精確分布,尤其是條件平均鏈長標準差,本文利用精確方法研究了控制圖的參數(shù)估計影響。結果顯示參數(shù)估計對Shewhart-S2圖、EWMA-S2圖與CUSUM... 

【文章來源】：浙江工商大學浙江省

【文章頁數(shù)】：111 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

圖2.1雙側Shewhart-S2圖的表現(xiàn)（n=5,m=15）

圖2.2雙側Shewhart-S2圖的表現(xiàn)（n=5,m=30）

33dydttfztTzyfyTbaijiUCLLCLj))1(()1()(1*（3-18）再令22abxabt，則上式可變形為dxabxabfzabxabTabij22)1(22211（3-19）代入?yún)^(qū)間(-1,1)上的100個高斯點v和相應權系數(shù)s，最終積分部分為2][2)1(2][22][1001abmvabfzabmvabTabmsijm（3-20）四、參數(shù)已知下的雙側EWMA-S2圖表現(xiàn)圖3.1給出了500,1,5020ARLn，不同與漂移量對等尾與平均鏈長無偏EWMA-S2圖的影響。圖3.1參數(shù)已知下EWMA-S2圖的平均鏈長500,1,5）（020ARLn，左邊為等尾EWMA-S2圖，右邊為平均鏈長無偏EWMA-S2圖由于等尾EWMA-S2圖在1時會出現(xiàn)平均鏈長值大于目標值500的情況，此時沒有很好地監(jiān)測到過程失控，因此有必要設計平均鏈長無偏EWMA-S2控制圖，使得平均鏈長在受控狀態(tài)下達到最大,其中等尾與無偏EWMA-S2圖的控制限計算方法參考Knoth和Morais（2015）。

【參考文獻】：
期刊論文
[1]ARL計算方法綜述[J]. 王兆軍,鞏震,鄒長亮.  數(shù)理統(tǒng)計與管理. 2011(03)
[2]關于累積和（CUSUM）檢驗的改進[J]. 濮曉龍.  應用數(shù)學學報. 2003(02)



本文編號：3225372