本文關(guān)鍵詞：TETRA數(shù)字集群綜合測試儀無線發(fā)射指標(biāo)測試功能的開發(fā)

  更多相關(guān)文章： 發(fā)射指標(biāo)測試 頻譜監(jiān)測 鄰道功率比 調(diào)制精度 頻偏校正

【摘要】：數(shù)字集群系統(tǒng)是一種高級(jí)專用移動(dòng)通信系統(tǒng),它不僅能夠提供個(gè)人移動(dòng)通信,還能為用戶提供豐富的無線指揮調(diào)度等功能,是國內(nèi)專用數(shù)字移動(dòng)通信重點(diǎn)研究項(xiàng)目之一。目前,國內(nèi)的城市軌道交通調(diào)度、警力分配、航空管制已經(jīng)大量應(yīng)用數(shù)字集群系統(tǒng),國內(nèi)的數(shù)字集群系統(tǒng)分析儀設(shè)備主要依靠進(jìn)口,且價(jià)格昂貴。因此,開發(fā)自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的TETRA綜合測試儀具有重要的經(jīng)濟(jì)意義與社會(huì)意義。在數(shù)字集群專用移動(dòng)通信系統(tǒng)中,其射頻性能直接影響到網(wǎng)絡(luò)性能。系統(tǒng)受限于硬件質(zhì)量和傳輸距離等,主要有以下幾個(gè)問題難以解決：(1)載波功率泄露至相鄰頻點(diǎn),造成串音和雜音等：(2)調(diào)制精度不夠,解調(diào)后星座圖有誤,造成解調(diào)誤碼率增大；(3)由于鎖相環(huán)精度不足,多普勒頻移等造成信號(hào)頻率漂移。本文在綜述國內(nèi)外數(shù)字集群綜合測試儀的技術(shù)特點(diǎn)和發(fā)展?fàn)顩r的基礎(chǔ)上,首先,根據(jù)TETRA數(shù)字集群綜合測試儀的總體結(jié)構(gòu),分析了發(fā)射測試指標(biāo)的要求,給出了發(fā)射指標(biāo)測試具體參數(shù)。利用VHDL語言,在XILINX公司的ISE平臺(tái)上,開發(fā)了通信頻譜監(jiān)測、鄰道功率比監(jiān)測、調(diào)制精度監(jiān)測、頻偏監(jiān)測四個(gè)主要功能。然后,基于傅里葉變換、頻譜搬移、FIFO計(jì)算、DQPSK解調(diào)原理,提出了濾波器參數(shù)、功率計(jì)算等方法,設(shè)計(jì)了頻譜監(jiān)測電路、鄰道功率比測試電路、調(diào)制精度測試電路、頻差測試電路、眼圖顯示電路和星座圖顯示電路等。最后,應(yīng)用VHDL語言,開發(fā)了TETRA數(shù)字集群綜合測試儀的發(fā)射指標(biāo)測試系統(tǒng),并對發(fā)射指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行了多項(xiàng)和大量數(shù)據(jù)的測試,測試結(jié)果表明TETRA數(shù)字集群綜合測試儀的發(fā)射指標(biāo)測試功能能夠滿足設(shè)計(jì)的功能要求。
【關(guān)鍵詞】：發(fā)射指標(biāo)測試 頻譜監(jiān)測 鄰道功率比 調(diào)制精度 頻偏校正
【學(xué)位授予單位】：北京交通大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號(hào)】：TN929.52
【目錄】：

• 致謝5-6
• 摘要6-7
• ABSTRACT7-15
• 1 緒論15-23
• 1.1 概述15
• 1.2 國內(nèi)外移動(dòng)通信系統(tǒng)綜合測試儀的發(fā)展?fàn)顩r15-19
• 1.2.1 國外移動(dòng)通信系統(tǒng)綜合分析儀的發(fā)展?fàn)顩r16-18
• 1.2.2 國內(nèi)外移動(dòng)通信系統(tǒng)綜合分析儀的發(fā)展?fàn)顩r18
• 1.2.3 國內(nèi)外移動(dòng)通信系統(tǒng)協(xié)議分析儀性能的比較18-19
• 1.3 論文選題的意義和主要工作19-22
• 1.3.1 頻譜監(jiān)測的意義20
• 1.3.2 測量鄰道功率比的意義20-21
• 1.3.3 測量調(diào)制精度的意義21-22
• 1.3.4 頻偏測量的意義22
• 1.4 論文結(jié)構(gòu)22-23
• 2 TETRA數(shù)字集群綜合測試儀及其發(fā)射指標(biāo)23-29
• 2.1 TETRA數(shù)字集群通信綜合分析儀23-24
• 2.2 發(fā)射指標(biāo)測試的硬件平臺(tái)24-26
• 2.3 發(fā)射指標(biāo)的測試要求26-28
• 2.3.1 頻譜監(jiān)測指標(biāo)的測試要求26-27
• 2.3.2 鄰道功率比指標(biāo)的測試要求27
• 2.3.3 調(diào)制精度指標(biāo)的測試要求27
• 2.3.4 頻偏指標(biāo)的測試要求27-28
• 2.4 空中接口發(fā)射指標(biāo)測試的主要功能28-29
• 3 發(fā)射指標(biāo)測試的理論分析29-45
• 3.1 頻譜監(jiān)測29-32
• 3.1.1 離散傅里葉變換算法29
• 3.1.2 快速傅里葉變換算法29-32
• 3.2 鄰道功率比的測試32-33
• 3.3 調(diào)制精度測試33-37
• 3.3.1 誤差矢量幅度34
• 3.3.2 理想情況與非理想情況34-36
• 3.3.3 符號(hào)時(shí)間的向量誤差的計(jì)算方式36-37
• 3.4 頻偏測試37-44
• 3.4.1 概述37-39
• 3.4.2 頻偏估計(jì)的理論算法39-40
• 3.4.3 基于頻域的頻偏算法40-41
• 3.4.4 基于時(shí)域的頻偏算法41-44
• 3.5 本章小結(jié)44-45
• 4 發(fā)射指標(biāo)測試功能的開發(fā)45-66
• 4.1 FPGA與ARM之間通信45-46
• 4.2 頻譜監(jiān)測功能的開發(fā)46-48
• 4.2.1 快速傅里葉變換模塊設(shè)計(jì)47
• 4.2.2 RAM存儲(chǔ)模塊的開發(fā)47
• 4.2.3 頻譜監(jiān)測模塊的開發(fā)流程47-48
• 4.3 鄰道功率比測試功能的開發(fā)48-58
• 4.3.1 方法選取49-50
• 4.3.2 DDC模塊設(shè)計(jì)50
• 4.3.3 濾波器設(shè)計(jì)50-56
• 4.3.4 功率檢測設(shè)計(jì)56
• 4.3.5 ACPR計(jì)算設(shè)計(jì)56-57
• 4.3.6 鄰道功率比測試的開發(fā)流程57-58
• 4.4 調(diào)制精度測試功能的開發(fā)58-62
• 4.4.1 概述58-59
• 4.4.2 DQPSK差分檢測模塊設(shè)計(jì)59-60
• 4.4.3 數(shù)據(jù)緩沖模塊設(shè)計(jì)60
• 4.4.4 同步模塊設(shè)計(jì)60
• 4.4.5 星座圖輸出設(shè)計(jì)60
• 4.4.6 EVM計(jì)算模塊的開發(fā)60-62
• 4.5 頻偏測試功能的開發(fā)62-65
• 4.5.1 概述62
• 4.5.2 自相關(guān)系數(shù)統(tǒng)計(jì)模塊設(shè)計(jì)62-63
• 4.5.3 頻偏估計(jì)模塊設(shè)計(jì)63
• 4.5.4 眼圖顯示模塊設(shè)計(jì)63-64
• 4.5.5 頻偏矯正功能的開發(fā)64-65
• 4.6 本章小結(jié)65-66
• 5 發(fā)射指標(biāo)參數(shù)的測試66-75
• 5.1 測試工具66
• 5.2 頻譜監(jiān)測功能測試與分析66-67
• 5.3 鄰道功率比測試與分析67-69
• 5.4 調(diào)制精度測試與分析69-71
• 5.5 頻偏測試與分析71-73
• 5.6 本章小結(jié)73-75
• 6 結(jié)論75-76
• 參考文獻(xiàn)76-80
• 作者簡歷80-83
• 學(xué)位論文數(shù)據(jù)集83

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2 李t，

本文編號(hào)：680136