本文選題：低劑量　切入點：電離輻射　出處：《蘇州大學(xué)》2016年碩士論文

【摘要】：目的：低劑量電離輻射誘導(dǎo)的基因組不穩(wěn)定性是指電離輻射照射“記憶”在細(xì)胞復(fù)制過程中向子代傳遞,從而使受照細(xì)胞的后代發(fā)生多種延遲效應(yīng)的一種生物學(xué)現(xiàn)象,子代細(xì)胞多表現(xiàn)為染色體易位、缺失、微核細(xì)胞率增高等等。目前包括基因組不穩(wěn)定性、旁效應(yīng)等在內(nèi)的非靶效應(yīng)等給傳統(tǒng)的輻射致癌、風(fēng)險評估帶來了巨大的沖擊,徹底改變了外界對電離輻射致癌風(fēng)險的評估,因而成為了放射生物學(xué)領(lǐng)域的研究熱點之一。本研究以人支氣管上皮細(xì)胞NL20為研究對象探討低劑量的不同輻射品質(zhì)射線所誘導(dǎo)的子代基因組不穩(wěn)定性及其相關(guān)機制。首先驗證低LET的X射線對NL20及其子代細(xì)胞造成的損傷；然后進(jìn)一步探究高LET的α粒子照射后NL20及其子代細(xì)胞的損傷情況；最后重點研究高能重離子——Fe離子對NL20及其子代細(xì)胞造成的損傷情況,為進(jìn)一步深入研究高LET低劑量電離輻射生物學(xué)效應(yīng)奠定基礎(chǔ)。方法：在實驗第一部分中,首先以微核形成和DNA損傷(53BP1 foci)兩個生物學(xué)終點確證了X射線可誘導(dǎo)NL20細(xì)胞產(chǎn)生DNA損傷,并且這一損傷效應(yīng)也存在于其子代細(xì)胞中。然后用本實驗室自行設(shè)計的用于細(xì)胞生物學(xué)實驗的新型α粒子照射裝置進(jìn)行驗證,檢測了照射后不同時間NL20細(xì)胞及其子代細(xì)胞DNA損傷的變化,并與用160 kVp的X射線照射結(jié)果相比較,探討低劑量不同輻射品質(zhì)射線對NL20及其子代細(xì)胞造成的損傷差異。本實驗第二部分采用蘭州重離子加速器鐵離子束照射,驗證低劑量高LET射線作用后NL20細(xì)胞及其子代細(xì)胞的損傷變化。首先以微核形成和53BP1 foci為指標(biāo)觀察了NL20細(xì)胞的DNA損傷變化情況。接著用細(xì)胞增殖實驗及細(xì)胞周期測定觀察經(jīng)鐵離子照射NL20細(xì)胞后對子代細(xì)胞增殖能力的影響；用ROS試劑盒檢測了經(jīng)鐵離子照射后NL20子代細(xì)胞內(nèi)ROS水平的變化。最后通過western blotting檢測了經(jīng)鐵離子照射后其子代細(xì)胞中SOD1、SOD2的表達(dá)情況。結(jié)果：1.α粒子、X射線分次照射時,在第3、6代53BP1 foci陽性率及微核細(xì)胞率均高于對照組；α粒子、X射線單次照射后,第3代與對照組在相應(yīng)指標(biāo)上沒有統(tǒng)計學(xué)差異。與低LET的X射線相比較,α粒子引起NL20細(xì)胞第3、6、18代53BP1foci及微核形成有增多的趨勢,但沒有統(tǒng)計學(xué)意義。2.NL20細(xì)胞經(jīng)鐵離子單次照射后,照射組子代細(xì)胞微核細(xì)胞率在第6、12代仍較對照組要高,且有統(tǒng)計學(xué)意義。在第18代兩組微核細(xì)胞率趨于一致。NL20細(xì)胞經(jīng)鐵離子單次照射后,照射組第6、12、18代細(xì)胞53BP1 foci陽性細(xì)胞率較對照組更高,有統(tǒng)計學(xué)意義,提示子代細(xì)胞內(nèi)的DNA損傷持續(xù)存在。NL20細(xì)胞經(jīng)鐵離子單次照射后,照射組子代細(xì)胞增殖速度減慢,然而經(jīng)Ku55933預(yù)處理后接受鐵離子照射的NL20細(xì)胞,其子代細(xì)胞增殖速度與對照組相似。與對照組相比,照射組子代細(xì)胞的G1期明顯延長,提示細(xì)胞發(fā)生G1期阻滯可能是其增殖速度減慢所致。NL20細(xì)胞經(jīng)鐵離子單次照射后,照射組19-22代子代細(xì)胞中的ROS水平明顯高于對照,有統(tǒng)計學(xué)意義。采用Western blotting檢測發(fā)現(xiàn)經(jīng)鐵離子照射NL20細(xì)胞后,與對照組比較,第22代細(xì)胞的SOD1、SOD2表達(dá)水平均降低,提示可能與細(xì)胞抗氧化系統(tǒng)功能減弱有關(guān)。結(jié)論：1.α粒子、X射線分次照射可誘導(dǎo)NL20細(xì)胞發(fā)生DNA損傷,同時該損失效應(yīng)可遺傳給子代細(xì)胞,而單次照射未見該現(xiàn)象；2.NL20細(xì)胞經(jīng)鐵離子照射后DNA損傷可在子代細(xì)胞中長期存在,同時伴隨著細(xì)胞增殖速度,周期分布的明顯改變,以及ROS水平及SOD1、SOD2的表達(dá)異常。3.射線品質(zhì)在低劑量電離輻射誘導(dǎo)的子代基因組不穩(wěn)定性效應(yīng)中有著重要作用,其具體機制有待進(jìn)一步研究。
[Abstract]:Objective : The genomic instability induced by low - dose ionizing radiation is a kind of biological phenomenon of ionizing radiation exposure to " memory " in the course of cell replication .
Then the damage of NL20 and its progeny cells after irradiation with high LET was further investigated .
The damage of NL20 cells and their progeny cells induced by high - energy heavy ion _ Fe ions was studied .
The expression of SOD1 and SOD2 in the progeny of NL20 cells after iron ion irradiation was detected by the ROS kit .
Compared with the control group , the proliferation rate of the cells in the irradiated group was significantly higher than that of the control group . The results showed that the proliferation rate of the cells in the irradiated group was lower than that of the control group .
2 . The DNA damage of NL20 cells after iron ion irradiation can be found in the progeny cells for a long time , accompanied by significant changes in cell proliferation rate , cycle distribution , and abnormal expression of ROS levels and SOD1 and SOD2 .

【學(xué)位授予單位】：蘇州大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號】：R594.8

【相似文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前3條

1 王熒;吳德沛;孫愛寧;金正明;仇惠英;苗瞄;唐曉文;傅(王爭)(王爭);馬驍;朱子玲;何軍;;母體內(nèi)微量子代細(xì)胞嵌合體在HLA半相合造血干細(xì)胞移植中的意義[J];中華血液學(xué)雜志;2006年12期

2 松濤;高和低LET輻射引起在體造血干細(xì)胞子代細(xì)胞染色體非穩(wěn)定性和可傳遞的畸變[J];國外醫(yī)學(xué)(放射醫(yī)學(xué)核醫(yī)學(xué)分冊);2002年01期

3 ;[J];;年期

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前1條

1 王龍曉;人支氣管上皮細(xì)胞NL20經(jīng)不同品質(zhì)的射線照射后其子代細(xì)胞基因組不穩(wěn)定性的研究[D];蘇州大學(xué);2016年

，

本文編號：1727984