受激輻射損耗（stimulated emission depletion, STED）顯微技術通過巧妙的光學設計,利用純光學的方法突破了光學衍射極限,空間分辨率達到納米量級,并保留了熒光顯微的許多優(yōu)點.然而,高的損耗光強度限制了STED顯微技術的廣泛應用,尤其在活細胞成像方面.本文找到了一種新型的具有良好線粒體靶向性的STED探針,具有較強的抗光漂白特性和較低的飽和擦除光強度3.5 m W (1.1 MW·cm^–2),利用該探針最高可獲得62 nm的空間分辨率,為活細胞線粒體STED超分辨成像提供了新的手段. 

【文章來源】：物理學報. 2020年16期 北大核心

【文章頁數】：9 頁

【參考文獻】：
期刊論文
[1]Coherent optical adaptive technique improves the spatial resolution of STED microscopy in thick samples[J]. WEI YAN,YANLONG YANG,YU TAN,XUN CHEN,YANG LI,JUNLE QU,TONG YE.  Photonics Research. 2017(03)



本文編號：2950460