【摘要】：目的探討新生兒低血糖性腦損傷的臨床特點及相關危險因素。方法選擇本院2010年1月至2017年2月期間收治的低血糖癥新生兒106例,積極處理患兒低血糖狀態(tài),根據(jù)核磁共振(MRI)、腦電圖(EEG)等檢查結(jié)果,將出現(xiàn)腦損傷的19例患兒納入觀察組,未出現(xiàn)腦損傷的87例患兒納入對照組。觀察記錄低血糖性腦損傷患兒的臨床表現(xiàn),對性別、胎齡、新生兒體質(zhì)量、分娩方式、妊娠期糖尿病、妊娠期高血壓、新生兒窒息、病理性黃疸、首次哺乳時間、喂養(yǎng)困難、呼吸異常、肌張力降低、新生兒驚厥、意識異常、最低血糖水平、低血糖持續(xù)時間,EEG檢查情況等可能影響低血糖新生兒腦損傷的因素進行單因素及多因素回歸分析。結(jié)果研究中低血糖性腦損傷的發(fā)生率為17.9%,其主要臨床表現(xiàn)為驚厥、呼吸異常、肌張力降低,MRI檢查提示所有患兒損傷主要累及頂枕部皮層,擴散加權(quán)成像呈高信號,大多數(shù)T1W1呈低信號,T2W1呈高信號;EEG檢查結(jié)果提示大多患兒出現(xiàn)異常改變,以局灶性陣發(fā)性棘波、電壓平坦以及雙側(cè)半球間斷低電壓表現(xiàn)為主。經(jīng)過單因素及多因素Logistic回歸分析后得到孕婦合并妊娠期糖尿病、新生兒驚厥、血糖水平低于1.5 mmol/L、低血糖持續(xù)時間24 h、EEG檢查結(jié)果異常是影響新生兒低血糖性腦損傷的獨立危險因素,差異均具有統(tǒng)計學意義(P0.05)。結(jié)論新生兒血糖濃度過低、低血糖狀態(tài)持續(xù)時間越長、新生兒驚厥發(fā)作、孕婦合并妊娠期糖尿病、EEG檢查結(jié)果異�？赡苡绊懶律鷥旱脱切阅X損傷的發(fā)生,應加強監(jiān)測并積極干預,降低新生兒腦損傷風險,避免神經(jīng)系統(tǒng)損傷。
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【作者單位】： 航空總醫(yī)院;
【分類號】：R722.1

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