集成電路測試系統(tǒng)是對集成電路工作性能、電氣參數(shù)測試的工具。最常用的使用方法是:集成電路測試系統(tǒng)讀取測試向量,對被測芯片引腳施加輸入激勵,測試被測芯片的引腳輸出響應,比較輸出響應與預期響應來判斷被測芯片是否達標。在進行集成電路測試的過程中,由于硬件無法實現(xiàn)理論上的無限大存儲量,在某一時刻只能存儲一部分的測試向量信息,因此需要一個機制及時的更換硬件內存信息。針對上述問題,本文設計了調度模塊,確保硬件在合適的時侯更換內存,在測試時隨時都能找到測試向量信息。調度模塊在集成電路軟件系統(tǒng)中有著承上啟下的作用。本文對集成電路測試向量的調度與優(yōu)化進行了以下研究:(1)從需求出發(fā)設計并實現(xiàn)了調度模塊。調度模塊實現(xiàn)了對測試向量的調度,確保了測試過程中硬件能夠隨時找到測試向量的真實信息,同時能夠減少硬件內存的替換次數(shù),縮短了測試時間,提高了測試效率。(2)設計了調度算法。調度過程需要一個調度算法來處理測試向量集,通過比較分析發(fā)現(xiàn),調度機制與高速緩沖存儲器Cache的最優(yōu)頁面替換算法OPT十分相似,因此本文以最優(yōu)替換算法為基礎,對其進行了優(yōu)化改進,設計了適合本項目使用的調度算法。(3)由于測試向量中向量操作碼... 

【文章來源】：電子科技大學四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：69 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

接觸測試原理圖

功能測試是數(shù)字集成電路測試的主要部分。它模擬了被測設備的實際工作狀態(tài),并編寫了一系列測試向量來測試被測設備的工作狀態(tài)。每個測試向量指定被測設備的輸入引腳的輸入數(shù)字狀態(tài)和輸出引腳的預期輸出狀態(tài)。在測試過程中,測試機以設置的速率執(zhí)行測試向量,并將采集的輸出引腳的實際輸出狀態(tài)與向量中的預期輸出狀態(tài)進行比較,以確定被測設備的電路功能是否正常。數(shù)字集成電路功能測試的原理圖如圖2-2所示:功能測試的測試過程如下:測試向量集中提供被測器件在每一個向量周期中引腳的輸入狀態(tài)和期望狀態(tài),向量格式化編碼單元收到被測器件引腳輸入狀態(tài)中的邏輯值,并結合測試人員設定的時序參數(shù)和波形格式,生成時序波形發(fā)送給測試通道,測試通道根據(jù)該通道內設定的電壓、電流等電氣參數(shù),將輸入時序波形的幅度進行增大或減小,驅動與測試通道連接的被測器件輸入引腳。同一個向量測試周期中,被測器件輸出引腳輸出的邏輯電平被測試通道采集,并與測試通道內設定的比較高低電平值比較,將采集的電平值轉換為邏輯值發(fā)送給輸出結果比較單元。輸出結果比較單元獲取同一向量測試周期內測試向量中的期望狀態(tài),與測試通道采集的邏輯狀態(tài)作對比。如果邏輯狀態(tài)相同,則進行下一條測試向量的測試;如果不同,則將該測試通道的期望狀態(tài)和采樣狀態(tài)作為歷史記錄保存。測試向量集全部執(zhí)行后,如果測試向量全部通過測試,則被測芯片功能測試合格,如果存在測試向量未通過測試,則被測芯片功能測試不合格,可通過歷史記錄查找原因。

作為集成電路性能的主要工具,現(xiàn)在主要使用的集成電路自動化測試系統(tǒng)是由自動化測試設備,測試軟件平臺,測試環(huán)境三部分組成的[13]。如圖2-3所示。集成電路測試系統(tǒng)可以簡單地視為測試軟件和測試設備的組合。測試過程可以看作是運行由測試軟件在硬件測試儀器上編寫和編譯測試文件,并將運行結果與預期結果進行比較的過程。圖中所示的集成電路測試系統(tǒng)的硬件是一個測試儀,由測試控制終端(主控計算機),測試機(測試模塊)和設備接口板組成。如圖2-4所示:

【參考文獻】：
期刊論文
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博士論文
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碩士論文
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本文編號：2916907