本文關鍵詞：PASS技術治療安氏Ⅰ類上頜尖牙唇向低位，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：目的:探討運用PASS矯治技術治療安氏I類上頜尖牙唇向低位的錯牙合畸形矯治前后磨牙支抗的控制情況。材料和方法:選取大連市奧索口腔醫(yī)療有限公司金州門診部2013年7月收治的安氏I類上頜尖牙唇向低位錯牙合畸形的女性患者一例,年齡11周歲,漢族。面部左右基本對稱,直面型,左、右側磨牙中性關系,上頜擁擠10mm,下頜擁擠6mm,13、23唇向低位。使用Ortho Technology(OT)Sensation托槽結合PASS矯治技術采取減數(shù)4顆第一雙尖牙的矯治計劃對該病例進行治療。結果:經(jīng)過14個月的矯治療程,患者牙列排列整齊,磨牙及尖牙I類關系,覆牙合、覆蓋正常,側貌良好。將患者矯治前后的頭顱側位片進行結構重疊,顱底重疊可見:上下頜骨無明顯旋轉(zhuǎn),垂直向控制良好。并進行草杷分析定量的發(fā)現(xiàn)上磨牙近中移動2.5mm,下磨牙近中移動2mm,均小于拔牙間隙的1/4,達到了強支抗控制的效果,因此上下磨牙在治療過程中支抗均控制良好。又通過對三維數(shù)字化模型重疊分析,可以直觀的發(fā)現(xiàn),經(jīng)過矯治:上、下磨牙近中移動,略微后傾,但移動量均未超過拔牙間隙的1/4,進一步說明上下磨牙的支抗控制良好。另外將矯治前后的X線頭影測量進行對比我們還發(fā)現(xiàn):FMA無明顯變化,提示垂直向控制良好;Z角增加3°,提示側貌良好。矯治后的全口曲面斷層片效果如下:牙根平行,未見明顯吸收,牙周組織未見異常。結論:對于安氏I類上頜尖牙唇向低位錯牙合畸形的患者,運用PASS矯治技術,既可以有效的控制傳統(tǒng)頰管引起的磨牙支抗喪失的缺陷,又可以避免自然生長引起的生理性支抗的丟失,從而達到了強支抗控制。PASS矯治技術無需其他口內(nèi)或者口外裝置增強支抗,使矯治程序得以優(yōu)化。
【關鍵詞】：PASS矯治技術 XBT頰管 磨牙支抗
【學位授予單位】：大連醫(yī)科大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2015
【分類號】：R783.5
【目錄】：

• 中文摘要8-9
• 英文摘要9-11
• 前言11-12
• 材料和方法12-16
• 1.病例來源12
• 2.臨床資料12-15
• 2.1 病例基本情況12
• 2.2 臨床檢查12-13
• 2.3 模型分析13
• 2.4 Bolton指數(shù)分析13-14
• 2.5 影像學檢查14-15
• 2.6 Tweed全牙列間隙分析15
• 3.診斷15
• 4.問題列表15
• 5.矯治目標15
• 6.矯治方案設計15
• 7.治療過程中使用材料15-16
• 8.治療過程16
• 結果16-18
• 1.矯治結果16-17
• 2.治療前后X線頭影測量分析17
• 3．矯治前后結構重疊分析17
• 3.1 顱底重疊（見圖 10）17
• 3.2 上頜重疊（見圖 11）17
• 3.3 下頜重疊（見圖 12）17
• 4．草杷分析（見圖 13）17-18
• 5.三維數(shù)字化模型重疊分析（見圖 14）18
• 討論18-22
• 1.尖牙低位的形成包含以下幾個因素18
• 2.矯治方案的選擇18-19
• 3、PASS矯治技術特點19-20
• 4.PASS技術的力學分析20-21
• 5.PASS矯治技術與其他矯治技術比較21-22
• 結論22-23
• 參考文獻23-25
• 綜述25-32
• 參考文獻30-32
• 附錄32-38
• 致謝38-39

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本文編號：276305