技術生命周期測度指標重構與實證研究
發(fā)布時間:2024-05-24 22:35
在競爭越發(fā)激烈的大背景下,掌握技術發(fā)展趨勢對于企業(yè)科學布局技術研發(fā)有著重要指導價值。一個企業(yè)對技術的投資前提首先要全面了解和整體把握投資對象,技術發(fā)展階段是作為投資對象的主要吸引力。專利是測度技術發(fā)展程度的重要方式,人們利用專利推測技術未來發(fā)展方向,為企業(yè)發(fā)展和技術研發(fā)提供參考價值。本文首先基于國內外研究現(xiàn)狀,總結了技術生命周期的理論研究、方法研究、方法應用以及基于技術生命周期理論的其他方向研究,系統(tǒng)整理當前已有判別方法,充分分析其各自的優(yōu)點和局限性及適用條件環(huán)境,指出目前測度技術生命周期的各項指標的有效性有待考量,且指標體系有待完善。因此我們首先完善指標體系,引入普賴斯指數(shù)和引文半衰期測度專利老化問題,彌補當前對于專利質量研究不深入問題。構建包含8個主要指標的判別指標體系,包括申請量、申請人數(shù)量、普賴斯指數(shù)、引文半衰期和專利指標法的四個指標,解釋指標含義并闡釋各自表現(xiàn)特征。基于此提出構建新指標的技術路線圖,首先測度指標體系中指標的有效性,采用因子分析法對指標的重要性進行分析,將遴選出的3個公因子中載荷最大指標作為構建新指標的基礎,加權綜合構建出新指標。實證分析我們以OLED領域為例,...
【文章頁數(shù)】:60 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
本文編號:3981322
【文章頁數(shù)】:60 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
圖2.1S曲線圖
第二章基本理論與方法等號左邊的計算結果是專利累計總數(shù);α是S曲線的成長率;β(midpoint)為成長曲線的斜率,當該參數(shù)由正轉負時標志著進入衰退期[45];L(saturation)即累積數(shù)量的能夠達到的最大值;T(growthtime)為某一技術在達到最大值的1....
圖2.2技術層次矩陣法根據(jù)這兩個指標建立的坐標系可以分為4個部分,如圖2.2所示,我們可以看
第二章基本理論與方法19首先是相對增長率(RGR),計算研究技術與所有技術領域的專利申請數(shù)的平均增長率的相對指標。通過這一指標,我們能夠分析出該技術領域與所有技術的增長速度的比較,明確在整個技術領域中發(fā)展速度的地位和程度。其次是相對增長潛力率(RDGR),這一概念主要測度該技術領....
圖2.3技術生命周期圖法示意圖
技術生命周期測度指標重構與實證研究20數(shù)或專利權人表示當前參與到該技術的主體,也能夠初步推斷技術生命周期,二者之間的關系能為參與主體判斷生命周期階段提供初步判斷結果,對專利權人數(shù)和申請量有宏觀把握。如圖2.3所示。圖2.3技術生命周期圖法示意圖2.2.5TCT計算法上述方法都是研....
圖2.4Reinhard指標階段變化曲線
技術生命周期測度指標重構與實證研究22圖2.4Reinhard指標階段變化曲線
本文編號:3981322
本文鏈接:http://www.sikaile.net/shoufeilunwen/jjglss/3981322.html
最近更新
教材專著