本文關(guān)鍵詞：一種新的與分布無關(guān)的控制圖

  更多相關(guān)文章： 非參數(shù)檢驗 Wilcoxon符號檢驗 與分布無關(guān) 統(tǒng)計過程控制

【摘要】：由于科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)代化大工業(yè)生產(chǎn)的不斷推進(jìn)，一方面，能夠快速的生產(chǎn)出產(chǎn)品滿足人們的需要，另一方面，大規(guī)模自動化的生產(chǎn)又不可避免的產(chǎn)生不合格產(chǎn)品，影響產(chǎn)品的質(zhì)量，使企業(yè)的受到損失。21世紀(jì)更是質(zhì)量更是作為第一判斷標(biāo)準(zhǔn)，更多的質(zhì)量保障則需要依賴于SPC（統(tǒng)計過程控制）。不但能夠幫助企業(yè)找到生產(chǎn)中存在的問題，并及時找出解決，把損失降低，還能在監(jiān)控過程中對未來數(shù)據(jù)有很好的預(yù)測能力。科技的不斷進(jìn)步，使得SPC的研究也不斷深入開始與各個領(lǐng)域有廣泛的結(jié)合，由于計算機的加入，自然大量的高維數(shù)據(jù)成為了研究的焦點。 其中，與信息技術(shù)相結(jié)合形成的在線監(jiān)控質(zhì)量問題，具有很高的實際應(yīng)用價值，它要求同時測量多個質(zhì)量特征的同時還要快速的找出不合格產(chǎn)品，以保障企業(yè)的效益和檢測效率，避免不必要的浪費，因此，多元非參數(shù)問題更是研究的重中之重。 傳統(tǒng)的控制圖，需要假設(shè)樣本的分布，而實際中往往并不能準(zhǔn)確的估計樣本的模型，從而造成偏差。而大部分已存在的非參數(shù)的方法不是需要利用大量的歷史觀測數(shù)據(jù)估計，就是基于某種分布的假設(shè)，并不能達(dá)到完全的與分布無關(guān)。所以解決高維非參數(shù)問題，找到一種新的與分布無關(guān)的非參數(shù)控制圖是本文的重點。 本文基于非參數(shù)方法中的Wilcoxon秩和檢驗的理論基礎(chǔ)，，利用秩統(tǒng)計量，從而得到了與樣本數(shù)據(jù)無關(guān)的統(tǒng)計量，達(dá)到真正的與分布無關(guān)。利用序貫變點探測模型，以此來解決樣本容量未知的問題。并結(jié)合指數(shù)加權(quán)運動平均(EWMA)控制圖的設(shè)計原理，具有找到一種新的無分布無關(guān)的控制圖。使得這種控制圖，在可控狀態(tài)（IC）下，達(dá)到理論的運行長度之前不發(fā)生報警，而在失控狀態(tài)（OC）下，及時的報警找到失控位置，減少損失。 通過模擬數(shù)據(jù)結(jié)果表明，這種新的非參數(shù)控制圖相比于以往的非參數(shù)控制圖，能夠更廣泛地適用于各種分布，尤其是高維的，歷史觀測值較少的情況。甚至相比于以往的參數(shù)控制圖，依然有很好的監(jiān)控效果。這種新的非參數(shù)控制圖對于中小漂移具有理想的監(jiān)控效果，適用于來自各種多元分布的高維數(shù)據(jù)，尤其是當(dāng)歷史觀測值比較少，難以估計分布時。
【關(guān)鍵詞】：非參數(shù)檢驗 Wilcoxon符號檢驗 與分布無關(guān) 統(tǒng)計過程控制
【學(xué)位授予單位】：天津職業(yè)技術(shù)師范大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2014
【分類號】：C81
【目錄】：

• 中文摘要4-5
• Abstract5-8
• 第1章 緒論8-11
• 1.1 統(tǒng)計過程控制8-9
• 1.1.1 SPC 基本原理8-9
• 1.1.2 SPC 的發(fā)展9
• 1.2 本文的研究意義9-11
• 第2章 控制圖11-16
• 2.1 控制圖的基本概念11-13
• 2.1.1 兩狀態(tài)：可控狀態(tài)（IC）和失控狀態(tài)（OC）和平均運行長度（ARL）11
• 2.1.2 兩階段：第Ⅰ階段和第Ⅱ階段11
• 2.1.3 兩類概率：第一類錯誤概率與第二類錯誤概率及平均運行步長（ARL）11-13
• 2.2 控制圖的介紹和發(fā)展13-16
• 第3章 非參數(shù)控制圖與多元控制圖16-21
• 3.1 非參數(shù)控制圖16-19
• 3.1.1 基本概念16-18
• 3.1.2 發(fā)展18-19
• 3.2 多元控制圖19-21
• 3.2.1 基本概念19
• 3.2.2 發(fā)展19-20
• 3.2.3 自啟動多元 EWMA 控制圖20-21
• 第4章 本文研究的一種新的與分布無關(guān)的控制圖21-32
• 4.1 非參數(shù)方法 Wilcoxon 秩和檢驗21
• 4.2 序貫變點探查方法21-23
• 4.2.1 序貫概率比檢驗21
• 4.2.2 序貫變點探測方法21-23
• 4.3 控制圖的設(shè)計與方法23-32
• 4.3.1 設(shè)計理論23
• 4.3.2 求控制線23-24
• 4.3.3 編程思路24
• 4.3.4 控制圖的比較效果24-32
• 第5章 結(jié)論32-33
• 參考文獻(xiàn)33-37
• 致謝37-38
• 申請學(xué)位期間的研究成果及發(fā)表的學(xué)術(shù)論文38

【參考文獻(xiàn)】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前3條

1 王兆軍;鞏震;鄒長亮;;ARL計算方法綜述[J];數(shù)理統(tǒng)計與管理;2011年03期

2 王兆軍;;關(guān)于單變量統(tǒng)計過程控制圖某些研究結(jié)果簡介[J];統(tǒng)計與信息論壇;2006年03期

3 王兆軍;關(guān)于動態(tài)質(zhì)量控制圖的設(shè)計理論[J];應(yīng)用概率統(tǒng)計;2002年03期

本文編號：792424