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可逆邏輯電路綜合與故障檢測方法研究

發(fā)布時間:2021-10-23 06:31
  可逆邏輯電路是低功耗設(shè)計和量子信息科學(xué)的重要基礎(chǔ),在低功耗CMOS技術(shù)和納米技術(shù)中有著重要的發(fā)展前景。本文對可逆邏輯電路的綜合方法和故障檢測修復(fù)方法等相關(guān)內(nèi)容作了研究,主要工作內(nèi)容如下:(1)基于Kronecker函數(shù)決策圖的可逆邏輯綜合方法研究。該方法將可逆邏輯電路的描述轉(zhuǎn)換成電路的功能函數(shù)表達式,通過三種分解方法將功能函數(shù)進行分解,表示成Kronecker函數(shù)決策圖的形式。然后根據(jù)Kronecker函數(shù)決策圖中不同類型的節(jié)點設(shè)計相應(yīng)的可逆邏輯電路模塊,最后將Kronecker函數(shù)決策圖中所有節(jié)點對應(yīng)的電路模塊級聯(lián),得到綜合電路。以可逆基準電路為例,對該方法做了驗證。結(jié)果表明,該方法能綜合輸入位數(shù)較多的可逆邏輯電路,并且量子代價有所降低。(2)可逆邏輯電路故障檢測與修復(fù)方法研究。根據(jù)電路中可逆邏輯門的數(shù)目,把電路分成多個層級,將每個層級中的可逆邏輯門進行重新封裝,添加控制位,每層級另外添加一個相同的門。設(shè)置各層級中新添加的控制位和可逆邏輯門的輸入,設(shè)置測試向量,對電路進行故障檢測,替換發(fā)生故障的門,使電路能正常工作。并且以prim3可逆基準電路為例,運用該方法設(shè)計了電路。結(jié)果表明,該... 

【文章來源】:南京航空航天大學(xué)江蘇省 211工程院校

【文章頁數(shù)】:74 頁

【學(xué)位級別】:碩士

【部分圖文】:

可逆邏輯電路綜合與故障檢測方法研究


控制V門和控制V+門

可逆邏輯電路綜合與故障檢測方法研究


部分量子代價為1的電路

可逆邏輯電路綜合與故障檢測方法研究


表示I函數(shù)的二叉決策圖

【參考文獻】:
期刊論文
[1]基于對換門庫的可逆邏輯電路綜合算法[J]. 李志鋼,陳漢武,李志強,朱皖寧,劉志昊.  東南大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版). 2012(05)
[2]量子計算機的發(fā)展現(xiàn)狀與趨勢[J]. 郭光燦,周正威,郭國平,涂濤.  中國科學(xué)院院刊. 2010(05)
[3]量子邏輯電路中控制點失效錯誤的定位[J]. 肖芳英,陳漢武.  計算機研究與發(fā)展. 2009(02)
[4]可逆電路中門失效錯誤的定位方法[J]. 肖芳英,陳漢武,李志強.  光電子技術(shù). 2007(03)
[5]基于Reed-Muller量子可逆邏輯電路的綜合快速算法[J]. 李志強,陳漢武.  揚州大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版). 2006(04)



本文編號:3452658

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