對(duì)不同太陽(yáng)能光熱薄膜的熱穩(wěn)定性進(jìn)行研究,并分析溫度誘導(dǎo)的衰老行為。熱穩(wěn)定性初始測(cè)試在278℃下分別退火36、75、150、300和600 h。最終測(cè)試在308℃下退火342 h。薄膜的光學(xué)性能通過(guò)UV/VIS/NIR分光光度計(jì)和FTIR光譜儀分析,微觀結(jié)構(gòu)和成分變化由FESEM、XRD分析。結(jié)果表明,經(jīng)退火薄膜出現(xiàn)微裂紋、微孔、起泡和脫落,以及新的氧化相,主要的衰老機(jī)制是元素的擴(kuò)散和氧化。 

【文章來(lái)源】：太陽(yáng)能學(xué)報(bào). 2018,39(01)北大核心EICSCD

【文章頁(yè)數(shù)】：5 頁(yè)

【文章目錄】：
0 引言
1 實(shí)驗(yàn)
2 結(jié)果與討論
    2.1 熱穩(wěn)定性研究
    2.2 熱處理過(guò)程中的微觀行為
3 結(jié)論



本文編號(hào)：3497728