探討光電自動驗(yàn)布機(jī)的技術(shù)現(xiàn)狀與發(fā)展趨勢。闡述了光電自動驗(yàn)布機(jī)在圖像識別系統(tǒng)、布匹牽引系統(tǒng)、自跟隨布面疵點(diǎn)標(biāo)記系統(tǒng)等關(guān)鍵技術(shù)上取得的突破,分析了光源、非疵點(diǎn)性干擾物、前后道工序銜接自動化等影響光電自動驗(yàn)布機(jī)正檢率及工作效率的因素,并提出了可行的解決方法;展望了光電自動驗(yàn)布機(jī)的發(fā)展趨勢。認(rèn)為:光電自動驗(yàn)布將向著個(gè)性化定制式、可控制雙光源、超高正檢率、較高自動化程度的方向發(fā)展。

【文章頁數(shù)】：4 頁

【文章目錄】：
1 已經(jīng)突破的關(guān)鍵技術(shù)
    1.1 圖像識別系統(tǒng)
    1.2 符合自動檢測要求的布匹牽引系統(tǒng)
    1.3 自跟隨布面疵點(diǎn)標(biāo)記系統(tǒng)
2 影響自動驗(yàn)布機(jī)效能的因素及解決方法
    2.1 光源對布面疵點(diǎn)識別的影響
    2.2 非疵點(diǎn)性干擾物會造成誤判
    2.3 前后道工序的銜接
3 發(fā)展趨勢
    3.1 按照用戶個(gè)性化要求的定制式
    3.2 可控制雙光源
    3.3 超高的正檢率
    3.4 較高的自動化程度
4 結(jié)束語



本文編號：3836054