基于CCD的γ射線照相中輻射噪聲的統(tǒng)計特性分析
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【部分圖文】:
圖2α穩(wěn)定分布的概率密度函數(shù)
在高能、高強度的γ射線照相診斷技術(shù)中,由于射線的深穿透作用,通常需要用屏蔽方法將γ射線注量降低到預(yù)定或可接受的控制水平之下。但次級射線散射效應(yīng)隨之產(chǎn)生,γ射線與CCD相機的Si薄層探測器相互作用會產(chǎn)生電子-空穴對[9],靈敏區(qū)電荷產(chǎn)生瞬時變化,CCD相機將不可避免地同時記錄射線產(chǎn)....
圖360Co輻照圖像(積分時間為0.01s)
為更好地展現(xiàn)輻射噪聲的形態(tài)特征和后續(xù)數(shù)據(jù)處理過程,對原始輻照圖像進行了減讀出噪聲擬合均值預(yù)處理。此時本底噪聲分布應(yīng)為讀出噪聲和輻射噪聲二者的卷積結(jié)果。輻射噪聲是指圖3中的高亮斑點噪聲,斑點尺寸可達幾個像素。高亮斑點出現(xiàn)的位置是隨機的,且高亮斑點的數(shù)量與γ射線注量成正比[3-5,1....
圖4不同積分時間下,分割目標數(shù)隨閾值的變化曲線
由圖3可知,輻射噪聲呈現(xiàn)出高亮斑點形態(tài),可采用閾值分割方法對高亮斑點進行提取。但由于讀出噪聲的存在,輻射噪聲不可能從輻照圖像中被完全提取出來。圖4給出了不同積分時間下,連續(xù)閾值二值化輻照圖像的分割目標數(shù)隨閾值的變化曲線。由圖4可見,輻照圖像中識別的分割目標數(shù)隨閾值增加出現(xiàn)2個峰。....
圖1暗場情況下,PICCD的噪聲統(tǒng)計分布曲線
CCD相機噪聲主要包括讀出噪聲(或稱隨機噪聲)和固有模式噪聲[7-8]2大類:。在描述CCD相機噪聲統(tǒng)計特性時,通常只考慮讀出噪聲的統(tǒng)計分布。讀出噪聲通常使用高斯模型描述,其均值為相機的偏置值,標準偏差為幾個灰度值。偏置值和標準偏差與相機的生產(chǎn)廠家及型號有關(guān),也與相機的工作狀態(tài)有....
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