基于單光子技術的閃爍體衰減時間常數測量
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【部分圖文】:
圖1單光子延遲符合法測試系統(tǒng)原理圖
圖1為單光子延遲符合法測試系統(tǒng)基本原理。利用放射源產生γ線,使用兩路探頭,一路使用待測閃爍體的一個端面與光電倍增管1(PMT1)耦合產生一個快速脈沖,通過后續(xù)的快前放1、延遲器1和恒比定時器1(CFD1)產生一個同步信號,作為啟動信號;另外一路使用待測閃爍體的另一個端面通過小孔準....
圖2單光子延遲符合法測試設備
圖2為單光子延遲符合法測試系統(tǒng),由樣品室、電子學系統(tǒng)及軟件系統(tǒng)組成。樣品室實現(xiàn)輻射源、閃爍體固定及光電倍增管探測;電子學系統(tǒng)實現(xiàn)高壓供電、前置放大、延遲、恒比定時及符合測量;軟件系統(tǒng)實現(xiàn)系統(tǒng)參數設置和時間譜測量,獲得時間譜測量的數據和曲線。2衰減時間常數測試及結果
圖3Ce∶LYSO的PMT輸出信號
將Ce∶LYSO在樣品室內安裝固定好,使用137Cs放射源產生γ線,用示波器測量PMT1和PMT2的輸出信號,如圖3所示。由圖可知,PMT1輸出為脈沖信號,幅值約150mV;PMT2輸出為單光子信號,幅值約30mV。在軟件界面設置時間窗口范圍為200ns;開始通道恒比定時....
圖4Ce∶LYSO衰減時間常數測試曲線
在軟件界面設置時間窗口范圍為200ns;開始通道恒比定時器過零電壓為20mV,恒比定時器比較閾值電壓為75mV;結束通道恒比定時器過零電壓為5mV,恒比定時器比較閾值電壓為15mV。測試得到1#、2#、3#Ce∶LYSO閃爍體衰減時間常數曲線如4所示。2.2Ce∶....
本文編號:3907285
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