針對(duì)瞬時(shí)電離輻射效應(yīng)考核中應(yīng)用經(jīng)典非參數(shù)法存在信息利用率低,評(píng)價(jià)結(jié)果過于保守的問題,本文在識(shí)別出瞬時(shí)電離輻射效應(yīng)數(shù)據(jù)在統(tǒng)計(jì)意義上屬于Ⅰ型區(qū)間刪失數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上,利用樣本空間排序法,開展電子器件抗瞬時(shí)電離輻射性能評(píng)估研究。首先,基于無失效數(shù)據(jù)開展了理論分析和實(shí)例計(jì)算,并將計(jì)算結(jié)果與經(jīng)典非參數(shù)法的計(jì)算結(jié)果進(jìn)行了對(duì)比,結(jié)果表明,樣本空間排序法提高了信息利用率,不僅可以增大生存概率置信下限,而且將置信下限所對(duì)應(yīng)的吸收劑量率上限從最小值增大到幾何平均值。其次,開展了失效分布模型的試驗(yàn)研究,根據(jù)瞬時(shí)電離輻射效應(yīng)特點(diǎn),提出以Ⅱ型區(qū)間刪失數(shù)據(jù)為數(shù)據(jù)源獲取經(jīng)驗(yàn)生存函數(shù),通過最小二乘法擬合經(jīng)驗(yàn)生存函數(shù)用于計(jì)算相關(guān)系數(shù),根據(jù)相關(guān)系數(shù)及對(duì)失效機(jī)理的分析,認(rèn)為商用靜態(tài)存儲(chǔ)器翻轉(zhuǎn)效應(yīng)服從對(duì)數(shù)正態(tài)分布的可能性最大。最后,基于再抽樣技術(shù)的蒙特卡羅模擬結(jié)果表明,樣本空間排序法在高生存概率區(qū)間的計(jì)算結(jié)果具有保守性。 

【文章頁數(shù)】：7 頁

【文章目錄】：
1 數(shù)據(jù)類型識(shí)別
2 優(yōu)異性
    2.1 理論分析
    2.2 實(shí)例計(jì)算
3 失效分布模型
    3.1 經(jīng)驗(yàn)生存函數(shù)的獲取
    3.2 相關(guān)系數(shù)計(jì)算
    3.3 失效分布模型的確定
4 保守性
5 結(jié)論


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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