基于Tikhonov正則化法,以單層、雙層以及三層屏蔽的¹⁵²Eu點源為例,對γ多層屏蔽材料厚度進行了反解研究。結(jié)果表明:Tikhonov正則化法能夠給出比最小二乘法更穩(wěn)定且可靠的計算結(jié)果。相對于線性吸收系數(shù)的計算與測量值的偏差,γ特征譜線的選取是影響反解結(jié)果的主要因素。 

【文章來源】：核電子學與探測技術(shù). 2020,40(01)北大核心

【文章頁數(shù)】：5 頁

【部分圖文】：

圖１?１５２Ｅｕ?７譜線在不同材料中的線性吸收系數(shù)??

【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3340708