測(cè)定核設(shè)施工藝設(shè)備內(nèi)的滯留量是核材料衡算過(guò)程中的技術(shù)難題,直接影響核設(shè)施的核材料閉合衡算,為了更加準(zhǔn)確地測(cè)量滯留量,提出一種校正方法,該方法在滯留量測(cè)量的點(diǎn)、線模型基礎(chǔ)上,對(duì)探測(cè)器的探測(cè)效率進(jìn)行更加精細(xì)的校正,當(dāng)核材料殘留呈線狀分布但存在一定寬度或呈點(diǎn)狀分布但存在一定面積時(shí),提出的校正方法能對(duì)滯留量的測(cè)量結(jié)果起到較好的修正效果,為滯留量測(cè)量準(zhǔn)確度的提高起到一定的作用。 

【文章來(lái)源】：世界核地質(zhì)科學(xué). 2020,37(02)

【文章頁(yè)數(shù)】：8 頁(yè)

【部分圖文】：

滯留量測(cè)量示意圖

如圖2所示，點(diǎn)源的測(cè)量模型，如果待測(cè)滯留量的外徑尺寸遠(yuǎn)小于測(cè)試距離時(shí)，則可以簡(jiǎn)化成點(diǎn)源進(jìn)行測(cè)試，如管道直角處、泵頭部位、閥門(mén)部位可用點(diǎn)源模型。探測(cè)器的凈峰計(jì)數(shù)率Cs（如235U的185.72 keVγ射線凈峰計(jì)數(shù)率，以下同）與滯留量m0(235U的質(zhì)量，以下同）的關(guān)系可由公式1表示：式中：Kp—刻度系數(shù)，g·s·cm-2;d0—距離，cm;CF—射線的吸收校正因子。利用標(biāo)準(zhǔn)點(diǎn)源通過(guò)實(shí)驗(yàn)可以得到刻度系數(shù)Kp（刻度時(shí)，點(diǎn)源自吸收效應(yīng)較小，CF近似為1）。

理想的線源如圖3所示。管道內(nèi)的滯留量，它的分布是連續(xù)的，當(dāng)伽馬探頭距離管道d0距離時(shí)，探測(cè)器視場(chǎng)內(nèi)一定長(zhǎng)度的管道，每個(gè)位置與探頭的相對(duì)距離不一樣，因此探測(cè)效率也不一樣，管道內(nèi)滯留量可以利用線源進(jìn)行刻度。測(cè)量線源時(shí)，探測(cè)器的凈峰計(jì)數(shù)率Cλ與滯留量線密度λ的關(guān)系可利用公式4表示。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號(hào)：3337966