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511. γ射線電離輻射對商用CMOS APS性能參數(shù)的影響
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512. 基于恒功耗的CMOS低噪聲放大器噪聲系數(shù)優(yōu)化計(jì)算
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513. 基于0.6μm CMOS工藝的ESD保護(hù)器件研究
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514. 帶溫度補(bǔ)償?shù)母呔?em>CMOS振蕩器的研究與設(shè)計(jì)
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515. 基于65nm CMOS的10位低功耗逐次逼近ADC
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516. 基于FPGA工具的關(guān)節(jié)臂激光掃描測頭CMOS圖像采集系統(tǒng)
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517. 基于CMOS工藝的毫米波壓控振蕩器芯片設(shè)計(jì)
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518. 基于0.6μm CMOS工藝ESD全芯片保護(hù)研究
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519. 低壓恒跨導(dǎo)軌至軌CMOS運(yùn)算放大器的研究與設(shè)計(jì)
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520. 基于65nm CMOS工藝10GHz超前進(jìn)位加法器設(shè)計(jì)
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