光溫敏不育系的育性因易受光溫條件影響而出現(xiàn)波動,導致種子純度不夠,是水稻生產(chǎn)上常見的問題。本研究對1個水稻黃葉不育系突變體H08S進行溫度敏感性分析和葉綠體超微結構觀察,同時通過構建分離群體進行突變基因的遺傳模式分析。結果表明,突變體H08S的表型受溫度影響,為低溫表達型葉色突變體,且其葉綠體結構出現(xiàn)異常,表現(xiàn)類囊體的片層結構減少,說明H08S基因的突變影響葉綠體的正常發(fā)育。突變體H08S分別與‘日本晴’、‘02428’構建F₂群體和BC₁F₁群體,觀察并統(tǒng)計群體植株葉色表型的分離情況,并進行卡方檢驗,結果表明該突變性狀受1對隱性單基因控制。 

【文章來源】：熱帶作物學報. 2020,41(07)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：5 頁

【部分圖文】：

野生型與突變體H08S在不同溫度條件下的表型鑒定

突變體H08S與‘日本晴’雜交獲得的F1代植株葉片均表現(xiàn)正常綠色，而自交后的F2代群體分離出葉色差異明顯的正常綠苗和黃化苗。突變體H08S與‘02428’雜交后F1代植株葉片也都表現(xiàn)正常綠色苗，測交后代BC1F1分離出現(xiàn)正常綠苗和黃化苗。卡方測驗結果表明，F(xiàn)2代群體中綠苗與黃化苗的分離比例符合3∶1,BC1F1群體中綠苗與黃化苗的分離比例符合1∶1（表2），說明該突變性狀受1對隱性單基因控制。3 討論

【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3368645