用于手機前置3D人臉識別攝像頭的ITOF傳感器關鍵技術研究
發(fā)布時間:2021-04-08 10:17
自配備Face ID面容解鎖的iPhone X發(fā)布以來,掀起了國內(nèi)外手機廠商對3D人臉識別技術的研究熱潮。手機前置3D人臉識別是基于人臉的3D模型,識別算法抗干擾性強,生物活性檢測準確、安全性高。目前,用于手機前置3D人臉識別攝像頭的3D測距技術主要有:雙目立體視覺(Binocular)、結構光(Structure Light)和飛行時間測量(Time of flight,TOF)。TOF相較于其他兩種技術,在抗干擾性、識別距離、算法實現(xiàn)和系統(tǒng)功耗方面更有優(yōu)勢。因而TOF傳感器更適用于手機前置3D人臉識別攝像頭。適用于手機前置3D人臉識別攝像頭的ITOF傳感器需要具備以下關鍵技術指標:傳感器能夠在25cm至100cm范圍實現(xiàn)3D測距且測距精度達到毫米級,相對誤差小于0.5%;像素分辨率達到320X240(QVGA),且芯片面積控制在6mm X 4mm;具有待機模式和快速喚醒的低功耗機制;能夠抑制150klx光照度背景光,在室外環(huán)境中依然可以保證3D人臉識別的準確率。本文研究了一種基于SMIC 0.13μm CIS工藝,適合用于手機前置3D人臉識別攝像頭的ITOF(Indirect TO...
【文章來源】:深圳大學廣東省
【文章頁數(shù)】:73 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
CMOS圖像傳感器陣列結構
圖 2-2 積累前后光電二極管的電勢情況如圖 2-2 所示,顯示了一個電氣浮動的 PN 結光電二極管積累前后的電勢情況條件下,見圖 2-2(a),光電二極管的能帶在 PN 結處發(fā)生彎曲,光電二極管的差 等于 PN 結內(nèi)建電勢差 加上光電二極管兩端的偏壓 。當在光照條件下射到半導體表面時,一部分光子被反射,另一部分光子被半導體吸收進入內(nèi)部載流子(電子-空穴對),光生載流子積累在 PN 結內(nèi)然后被耗盡層電場掃向表合效應,導致耗盡層電勢降低,見圖 2-2(b), 表示經(jīng)過光電積累后勢阱的電 的變化量與受到的光照強度和積累時間近似成正比。 無源像素傳感器CMOS 圖像傳感器開始商用時,采用的是無源像素傳感器(Passive Pixel Sen),像素電路結構如圖 2-3 所示,無源像素傳感器的結構十分簡單,一個像素只光電二極管和一個行選通晶體管組成,光電二極管通過行選通晶體管連接到列
圖 2-3 PPS 像素電路結構傳感器的結構十分簡單,因此具有很大的填充因子(Fill-F充因子指像素中感光部分面積與像素總面積的比值,填充。但在使用過程中發(fā)現(xiàn)無源像素傳感器結構有如下缺點:復位噪聲也被稱為 噪聲,當積累電荷通過復位晶體管復位時,樣,這里的積累電容是 PN 結光電二極管的結電容。同時在很大的采樣電容 C,因此較大的復位噪聲在無源像素傳感列固定模式噪聲(Fixed Pattern Noise,F(xiàn)PN)出線上的采樣電容 C 很大,列開關晶體管需要很大的驅動較大的重疊柵極電容 ,將產(chǎn)生很大的開關噪聲,導致
【參考文獻】:
期刊論文
[1]結構光掃描對骨性Ⅲ類錯正畸正頜聯(lián)合治療前后軟組織三維變化的初步評價[J]. 彭菊香,江久匯,趙一姣,王勇,李澤,王檸檸,馮智敏. 北京大學學報(醫(yī)學版). 2015(01)
[2]一種提升4T-APS像元量子效率的方法[J]. 李炘,唐威,張冰,李棟,何杰. 微電子學與計算機. 2014(03)
[3]CMOS圖像傳感器4T像素本底噪聲分析[J]. 李棟,劉文平,張冰,李炘,何杰. 微電子學與計算機. 2014(03)
[4]一種強驅動大擺幅輸出緩沖器的設計[J]. 王起,盧艷,楊亞敏,王力文. 黑龍江科技信息. 2013(24)
[5]四管像素滿阱容量影響因素研究[J]. 孫權,姚素英,徐江濤,徐超,張冬苓. 傳感技術學報. 2013(06)
[6]CMOS有源像素傳感器像素級噪聲的分析與抑制[J]. 鄧若漢,嚴奕,余金金,陳永平. 激光與光電子學進展. 2011(05)
本文編號:3125366
【文章來源】:深圳大學廣東省
【文章頁數(shù)】:73 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
CMOS圖像傳感器陣列結構
圖 2-2 積累前后光電二極管的電勢情況如圖 2-2 所示,顯示了一個電氣浮動的 PN 結光電二極管積累前后的電勢情況條件下,見圖 2-2(a),光電二極管的能帶在 PN 結處發(fā)生彎曲,光電二極管的差 等于 PN 結內(nèi)建電勢差 加上光電二極管兩端的偏壓 。當在光照條件下射到半導體表面時,一部分光子被反射,另一部分光子被半導體吸收進入內(nèi)部載流子(電子-空穴對),光生載流子積累在 PN 結內(nèi)然后被耗盡層電場掃向表合效應,導致耗盡層電勢降低,見圖 2-2(b), 表示經(jīng)過光電積累后勢阱的電 的變化量與受到的光照強度和積累時間近似成正比。 無源像素傳感器CMOS 圖像傳感器開始商用時,采用的是無源像素傳感器(Passive Pixel Sen),像素電路結構如圖 2-3 所示,無源像素傳感器的結構十分簡單,一個像素只光電二極管和一個行選通晶體管組成,光電二極管通過行選通晶體管連接到列
圖 2-3 PPS 像素電路結構傳感器的結構十分簡單,因此具有很大的填充因子(Fill-F充因子指像素中感光部分面積與像素總面積的比值,填充。但在使用過程中發(fā)現(xiàn)無源像素傳感器結構有如下缺點:復位噪聲也被稱為 噪聲,當積累電荷通過復位晶體管復位時,樣,這里的積累電容是 PN 結光電二極管的結電容。同時在很大的采樣電容 C,因此較大的復位噪聲在無源像素傳感列固定模式噪聲(Fixed Pattern Noise,F(xiàn)PN)出線上的采樣電容 C 很大,列開關晶體管需要很大的驅動較大的重疊柵極電容 ,將產(chǎn)生很大的開關噪聲,導致
【參考文獻】:
期刊論文
[1]結構光掃描對骨性Ⅲ類錯正畸正頜聯(lián)合治療前后軟組織三維變化的初步評價[J]. 彭菊香,江久匯,趙一姣,王勇,李澤,王檸檸,馮智敏. 北京大學學報(醫(yī)學版). 2015(01)
[2]一種提升4T-APS像元量子效率的方法[J]. 李炘,唐威,張冰,李棟,何杰. 微電子學與計算機. 2014(03)
[3]CMOS圖像傳感器4T像素本底噪聲分析[J]. 李棟,劉文平,張冰,李炘,何杰. 微電子學與計算機. 2014(03)
[4]一種強驅動大擺幅輸出緩沖器的設計[J]. 王起,盧艷,楊亞敏,王力文. 黑龍江科技信息. 2013(24)
[5]四管像素滿阱容量影響因素研究[J]. 孫權,姚素英,徐江濤,徐超,張冬苓. 傳感技術學報. 2013(06)
[6]CMOS有源像素傳感器像素級噪聲的分析與抑制[J]. 鄧若漢,嚴奕,余金金,陳永平. 激光與光電子學進展. 2011(05)
本文編號:3125366
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