基于加工表面顯微圖像的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)粗糙度識(shí)別技術(shù)研究
【學(xué)位授予單位】:西安理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2019
【分類(lèi)號(hào)】:TP391.41;TP183
【圖文】:
1 緒論方法中的光學(xué)、超聲、掃描隧道顯微鏡等所用儀器設(shè)備價(jià)格昂貴,對(duì)環(huán)境要求高,測(cè)量尺寸和粗糙度范圍有限,限制了其在工程領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。1.2.2 表面粗糙度測(cè)量方法的研究現(xiàn)狀表面粗糙度是影響生產(chǎn)制造精度的重要因素,其測(cè)量方法的提出可以追溯到 1929 年,G.Schmalz 首次對(duì)表面粗糙度進(jìn)行了初步評(píng)價(jià)和定義,其采用 Hmax 參數(shù)和測(cè)量基線兩個(gè)標(biāo)定量,第一次對(duì)工件表面粗糙度進(jìn)行了量化評(píng)價(jià),為后續(xù)表面粗糙度的進(jìn)一步研究奠定了基礎(chǔ)。1936 年,E.J.Abbott 研發(fā)了第一款用于生產(chǎn)的表面粗糙度測(cè)量?jī)x,其采用表面輪廓的峰頂和探針支撐面積的比值關(guān)系特征對(duì)表面粗糙度進(jìn)行了定義。1940 年,英國(guó)研制出了觸針式泰勒雪夫表面粗糙度儀[10],其工作原理如圖 1-2 所示。英國(guó)的糙度儀出現(xiàn)后,各國(guó)也均成功研制出不同的測(cè)量表面粗糙度的輪廓儀。電感線圈分劃板狹縫光源S
1 緒論方法中的光學(xué)、超聲、掃描隧道顯微鏡等所用儀器設(shè)備價(jià)格昂貴,對(duì)環(huán)境要求高,測(cè)量尺寸和粗糙度范圍有限,限制了其在工程領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。1.2.2 表面粗糙度測(cè)量方法的研究現(xiàn)狀表面粗糙度是影響生產(chǎn)制造精度的重要因素,其測(cè)量方法的提出可以追溯到 1929 年,G.Schmalz 首次對(duì)表面粗糙度進(jìn)行了初步評(píng)價(jià)和定義,其采用 Hmax 參數(shù)和測(cè)量基線兩個(gè)標(biāo)定量,第一次對(duì)工件表面粗糙度進(jìn)行了量化評(píng)價(jià),為后續(xù)表面粗糙度的進(jìn)一步研究奠定了基礎(chǔ)。1936 年,E.J.Abbott 研發(fā)了第一款用于生產(chǎn)的表面粗糙度測(cè)量?jī)x,其采用表面輪廓的峰頂和探針支撐面積的比值關(guān)系特征對(duì)表面粗糙度進(jìn)行了定義。1940 年,英國(guó)研制出了觸針式泰勒雪夫表面粗糙度儀[10],其工作原理如圖 1-2 所示。英國(guó)的糙度儀出現(xiàn)后,各國(guó)也均成功研制出不同的測(cè)量表面粗糙度的輪廓儀。電感線圈分劃板狹縫光源S
應(yīng)用機(jī)器學(xué)習(xí)算法對(duì)待測(cè)表面的粗糙度進(jìn)行預(yù)測(cè)。雖然這些方法相比傳統(tǒng)的接觸式和光學(xué)測(cè)量方法高效,準(zhǔn)確,但這類(lèi)方法的難點(diǎn)在于統(tǒng)計(jì)參數(shù)的提取,而其參數(shù)是通工設(shè)計(jì)圖像特征后提取的,所以既耗時(shí),成本又高;并且分階段采用人工特征標(biāo)記對(duì)粗糙度進(jìn)行識(shí)別既增加了運(yùn)算識(shí)別復(fù)雜程度,又極大的提高了識(shí)別成本,部分研究者于研究從原始自然圖像中 自學(xué)習(xí)特征 而非事先 人工設(shè)計(jì)特征 的深度學(xué)習(xí)[30]。2.3 卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)研究現(xiàn)狀隨著智能化產(chǎn)業(yè)的普及,人工智能設(shè)備越來(lái)越普遍。深度學(xué)習(xí)作為人工智能領(lǐng)域不缺的關(guān)鍵環(huán)節(jié),支撐著眾多智能設(shè)備的智能操作。而如今,深度學(xué)習(xí)已廣泛應(yīng)用于我活的方方面面,讓生產(chǎn)制造變得更為精密,便捷。本研究課題提出了一種應(yīng)用深度卷經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的方法來(lái)測(cè)量工件的表面粗糙度。卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(CNN)目前是深度學(xué)習(xí)領(lǐng)域用最為成熟的分支之一,具有強(qiáng)大的特征學(xué)習(xí)能力。深度學(xué)習(xí)在特征提取方面與其他學(xué)習(xí)算法不同。如圖 1-5 所示,深度學(xué)習(xí)替代了機(jī)器學(xué)習(xí)的特征提取、特征統(tǒng)計(jì)以及學(xué)習(xí)等步驟,就像是一個(gè) 黑箱 ,自動(dòng)提取圖像的特征信息,并且實(shí)現(xiàn)了特征提取與的一體化,從而完成了輸入到輸出的圖像識(shí)別,大大提高了圖像的檢測(cè)效率與識(shí)別精特征傳統(tǒng)的機(jī)器學(xué)習(xí)算法輸入特征提取輸出機(jī)器學(xué)習(xí)
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本文編號(hào):2778651
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