一種檢測閉環(huán)控制器及其全溫穩(wěn)定性驗證
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【摘要】:提出一種基于比例—積分和相位超前校正的閉環(huán)控制器設(shè)計,并驗證電路在全溫狀態(tài)下的穩(wěn)定性。分析閉環(huán)控制器的工作原理和電路的設(shè)計方案,并對閉環(huán)控制器的電路進行了仿真,得到了比較理想的結(jié)果。證明了在驅(qū)動回路和檢測回路較小頻率差的前提下,可通過控制系統(tǒng)的優(yōu)化達到拓展帶寬的目的。在不同溫度狀態(tài)下檢測電路的性能,實驗結(jié)果顯示溫度不會影響控制器的穩(wěn)定性,但會影響控制器的帶寬。
【作者單位】: 中北大學電子測試技術(shù)重點實驗室;
【基金】:中北大學電子測試技術(shù)重點實驗室開放基金項目(ZDSYSJ2015004)
【分類號】:TP273
【正文快照】: 硅微機械陀螺儀用于測量輸入角速率信息,最得了較大進步,部分研究院所已經(jīng)研制了中、高精早出現(xiàn)于上世紀八九十年代,其基于哥氏效應(yīng)原理度的樣機和產(chǎn)品,但由于加工工藝和集成電路等技采用MEMS加工工藝制成,擁有體積小、成本低、重術(shù)的限制,國產(chǎn)硅微機械陀螺儀性能與國外還有一
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,本文編號:1188425
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