為實現(xiàn)對高可靠性長壽命產(chǎn)品在正常應(yīng)力水平時壽命與可靠性水平的快速評估。本文通過建立各種Weibull分布恒加試驗可靠性統(tǒng)計模型,對Weibull分布恒加試驗的優(yōu)化設(shè)計、試驗數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析方法進行全面、深入研究。主要研究結(jié)論如下:第一、通過建立Arrhenius—Weibull可靠性統(tǒng)計模型,以產(chǎn)品在正常應(yīng)力水平下中位壽命估計的漸近方差最小為優(yōu)化準則,以試驗應(yīng)力水平數(shù)和大小,試樣分配比例及各應(yīng)水平下的截尾時間為設(shè)計變量,給出了Weibull分布定時截尾恒加試驗置信樣本量的優(yōu)化設(shè)計方法,評價試驗方案優(yōu)劣的統(tǒng)計模型。通過Monte Carlo模擬試驗對所給優(yōu)化設(shè)計方法的可行性進行研究與分析,結(jié)果表明所給方法是可行的。第二、在恒加試驗Weibull可靠性統(tǒng)計模型假設(shè)下,給出了Weibull分布恒加試驗數(shù)據(jù)的簡化MLE方法;獲得了用于構(gòu)造模型參數(shù)漸近置信區(qū)間的Fisher信息矩陣和協(xié)方差矩陣,并根據(jù)MLE的漸近正態(tài)性給出了模型參數(shù)和可靠度的漸近置信區(qū)間;利用所給方法分別對熱應(yīng)力和電應(yīng)力作用下的恒加試驗數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析,分析結(jié)果表明所給方法是可行性的且具有普遍適用性。第三、通過建立有交互作用的廣義Eyring—Weibull可靠性統(tǒng)計模型,以產(chǎn)品在正常應(yīng)力水平組合下中位壽命估計的漸近方差最小為優(yōu)化準則,以熱應(yīng)力和非熱應(yīng)力同時作為加速應(yīng)力,探討了Weibull分布雙應(yīng)力恒加試驗的優(yōu)化設(shè)計理論與模擬評價方法。給出了評價試驗方案優(yōu)劣的統(tǒng)計模型,試驗樣本量的確定方法。并對航天電連接器產(chǎn)品在溫度和振動雙應(yīng)力作用下,進行恒加試驗Monte Carlo模擬研究,研究結(jié)果表明所給方法是可行的且具有一定的理論參考價值。第四、在無交互作用的廣義Eyring—Weibull可靠性統(tǒng)計模型假設(shè)下,研究了Weibull分布雙應(yīng)力恒加試驗數(shù)據(jù)的簡化MLE方法,獲得了用于構(gòu)造模型參數(shù)漸近置信區(qū)間的Fisher信息矩陣和協(xié)方差矩陣,且并給出了模型參數(shù)的漸近置信區(qū)間。利用所給方法對溫度和振動雙應(yīng)力恒加試驗的Monte Carlo模擬數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析,分析結(jié)果表明所給方法是可行性的,且較傳統(tǒng)MLE法計算效率顯著提高。
【學位單位】：西南交通大學
【學位級別】：碩士
【學位年份】：2018
【中圖分類】：TB114.3
【部分圖文】：

西南交通大學碩士研究生學位論文 效概率 ( )ijF t ；再對1 1 ( ) ij F t進行雙對數(shù)變換[49, 據(jù)點,lnln 1 1 ( ) ij ijt F t 繪制到同一張 Weibull 概2.1 容易發(fā)現(xiàn)，各溫度應(yīng)力水下的試驗數(shù)據(jù)基本上散下試驗數(shù)據(jù)的 Weibull 分布直線大致平行。因此可器產(chǎn)品的壽命均服從 Weibull 分布，且形狀參數(shù)m

西南交通大學碩士研究生學位論文 表 2.5 正常溫度水平時的可靠度估計與其置信區(qū)間MLE 值0 R (t )90%置信下限0, ( )LR t 900.97 0.93 0.91 0.78 0.82 0.59 0.71 0.41 0.60 0.26 0.49 0.15 0.30 0.04 0.16 0.01 方案下，正常溫度水平 85℃時產(chǎn)品的可靠度曲線與其 2.2 所示。

0.2361 0.1104 2.1386 0.2988 0.3990 0.3473 1.1489 0.2463 可知，范·蒙特福特統(tǒng)計量F 值均介于F 分布的0.095 1 2 ( f , f )之間，這表明表 3.1 中各電壓應(yīng)力水平下擬合優(yōu)度檢驗亦可采用 Weibull 概率紙法[2, 49, 55]進 49] ( ) ( 0.3) ( 0.4)ij iF t j n ， 1,2, ,ij n效概率 ( )ijF t ，再對1 1 ( ) ij F t進行雙對數(shù)變換[49據(jù)點,lnln 1 1 ( ) ij ijt F t 繪制到同一張 Weibull 概 3.1 可知，各電壓應(yīng)力水平下的試驗數(shù)據(jù)基本上散應(yīng)力水平下的失效時間均服從 Weibull 分布。

【參考文獻】

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本文編號：2807954