發(fā)布時(shí)間：2017-09-29 05:12

  本文關(guān)鍵詞：使用高精度三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x實(shí)現(xiàn)透鏡定中心

  更多相關(guān)文章： 光學(xué)裝校 中心偏測(cè)量 透鏡定中心 光軸一致性 三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x

【摘要】：傳統(tǒng)的光學(xué)測(cè)量定中心法受限于光源、轉(zhuǎn)臺(tái)大小和裝調(diào)誤差傳遞性而不適用于大口徑、多透鏡光學(xué)系統(tǒng)的裝調(diào),為此本文提出了使用三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x接觸式測(cè)定透鏡中心的精密機(jī)械測(cè)量法。介紹了使用三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x測(cè)量大口徑透鏡中心偏的原理,即在測(cè)量透鏡上表面與基準(zhǔn)軸等距離各點(diǎn)坐標(biāo)的基礎(chǔ)上擬合得到透鏡光軸與基準(zhǔn)軸的夾角,從而解算出透鏡的中心偏。通過(guò)大口徑長(zhǎng)焦距鏡頭的裝調(diào)對(duì)該方法進(jìn)行了檢驗(yàn)。檢驗(yàn)結(jié)果表明:該透鏡的裝調(diào)偏差為6.47″,重復(fù)性誤差為(1.16×10-4)″。該方法將光學(xué)測(cè)量變?yōu)闄C(jī)械測(cè)量,利于裝調(diào),可在保證裝調(diào)精度的同時(shí)簡(jiǎn)化裝調(diào)難度,提升裝調(diào)效率,滿(mǎn)足大口徑多透鏡光學(xué)系統(tǒng)對(duì)高精度裝調(diào)的要求。
【作者單位】： 上海衛(wèi)星工程研究所;南京理工大學(xué)電子工程與光電技術(shù)學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 光學(xué)裝校 中心偏測(cè)量 透鏡定中心 光軸一致性 三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x
【基金】：國(guó)家973重點(diǎn)基礎(chǔ)研究發(fā)展計(jì)劃資助項(xiàng)目(No.2014CB744200) 國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(No.60977008,No.61377015) 中國(guó)科學(xué)院重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室開(kāi)放基金資助項(xiàng)目(No.2008DP173445)
【分類(lèi)號(hào)】：TH721
【正文快照】： 1引言近年來(lái),隨著航天航空觀測(cè)等領(lǐng)域的高速發(fā)展,人們對(duì)探測(cè)系統(tǒng)提出了更高的要求。用于探測(cè)的光學(xué)系統(tǒng)的空間分辨率、光譜分辨率等愈來(lái)愈高,焦距愈來(lái)愈長(zhǎng),口徑也愈來(lái)愈大,工作波段覆蓋可見(jiàn)光到紅外,從而使光學(xué)系統(tǒng)愈來(lái)愈復(fù)雜[1]。這些復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng)的研制與光學(xué)元件、光電探測(cè)

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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【相似文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：940142