雙光路鏡面露點(diǎn)儀的研制
本文關(guān)鍵詞:雙光路鏡面露點(diǎn)儀的研制
更多相關(guān)文章: 濕度測(cè)量 鏡面露點(diǎn)儀 Smith 控制 雙光路
【摘要】:濕度是一個(gè)與我們的工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)及生活息息相關(guān)的量,測(cè)量氣體中的水蒸氣露點(diǎn)溫度的儀器叫露點(diǎn)儀。本文主要根據(jù)冷鏡原理和光電檢測(cè)技術(shù)設(shè)計(jì)了一種新型的雙光路鏡面露點(diǎn)儀,用于工業(yè)生產(chǎn)中氣體的濕度檢測(cè)。本論文采用以ARM為核心的STM32微控制器,采用高精度的測(cè)量電路和控制算法,設(shè)計(jì)出了高精度的雙光路鏡面露點(diǎn)儀。其中測(cè)量光經(jīng)分光后,一路光直接被光電管接收,作為參考信號(hào),對(duì)光強(qiáng)自動(dòng)進(jìn)行溫度補(bǔ)償;另一路光經(jīng)冷鏡面反射和散射后經(jīng)透鏡聚焦被光電管接收,使反射光和散射光線都用于測(cè)量,不浪費(fèi)光線,光信號(hào)經(jīng)光電轉(zhuǎn)換及放大后控制制冷器制冷,使氣體中的水蒸氣在鏡面上冷凝并達(dá)到相平衡狀態(tài),通過(guò)高精度的測(cè)溫電路測(cè)出露層溫度,實(shí)現(xiàn)對(duì)氣體濕度的精確測(cè)量。由于濕度測(cè)量系統(tǒng)是一個(gè)純滯后系統(tǒng),對(duì)于純滯后系統(tǒng)的控制方法進(jìn)行了研究及仿真,確定并采用改進(jìn)型Smith控制方法進(jìn)行測(cè)量控制,使測(cè)量速度大大提高,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明本方案設(shè)計(jì)的儀表測(cè)量精度高、測(cè)量速度快、耗氣量小、穩(wěn)定性好。
【關(guān)鍵詞】:濕度測(cè)量 鏡面露點(diǎn)儀 Smith 控制 雙光路
【學(xué)位授予單位】:鄭州大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類(lèi)號(hào)】:TH837
【目錄】:
- 摘要4-5
- Abstract5-9
- 1 緒論9-17
- 1.1 濕度的相關(guān)概念及術(shù)語(yǔ)9-12
- 1.1.1 水的基本物理化學(xué)性質(zhì)9-10
- 1.1.2 水的表面張力10
- 1.1.3 平衡和飽和的概念10-11
- 1.1.4 濕度的各種表示方法11-12
- 1.2 濕度測(cè)量的重要意義12-15
- 1.2.1 SF6 設(shè)備、高壓開(kāi)關(guān)等殘留水分的產(chǎn)生及造成的危害12-14
- 1.2.2 氫冷發(fā)電機(jī)水分的產(chǎn)生及造成的危害14-15
- 1.3 濕度測(cè)量的方法及國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀15-16
- 1.4 論文結(jié)構(gòu)安排16-17
- 2 系統(tǒng)總體方案17-24
- 2.1 鏡面露點(diǎn)儀的測(cè)量原理18-19
- 2.2 鏡面露點(diǎn)儀設(shè)計(jì)的一般考慮19-21
- 2.3 鏡面露點(diǎn)儀測(cè)量注意事項(xiàng)21-24
- 2.3.1 冷鏡面污染對(duì)測(cè)量的影響21
- 2.3.2 降溫速度和樣氣流速對(duì)測(cè)量的影響21-22
- 2.3.3 低霜點(diǎn)測(cè)量中的問(wèn)題22-24
- 3 Smith預(yù)估控制算法24-37
- 3.1 Smith預(yù)估控制24-26
- 3.2 系統(tǒng)模型的建立及建模方法26-28
- 3.2.1 數(shù)學(xué)模型建立的方法26-27
- 3.2.2 系統(tǒng)模型的建立27-28
- 3.3 PID控制及參數(shù)整定28-32
- 3.3.1 PID控制29-30
- 3.3.2 PID控制器參數(shù)的整定30-32
- 3.4 改進(jìn)型算法及仿真比較32-37
- 4 系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)方案37-47
- 4.1 微控制器及其外圍電路設(shè)計(jì)38-41
- 4.1.1 微控制器最小系統(tǒng)電路設(shè)計(jì)38-39
- 4.1.2 觸摸屏及存儲(chǔ)電路設(shè)計(jì)39-41
- 4.2 光電檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)41-44
- 4.2.1 光路設(shè)計(jì)41-42
- 4.2.2 冷鏡設(shè)計(jì)42-43
- 4.2.3 電路設(shè)計(jì)43-44
- 4.3 溫控系統(tǒng)設(shè)計(jì)44-46
- 4.4 數(shù)據(jù)采集模塊設(shè)計(jì)46-47
- 5 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)47-63
- 5.1 開(kāi)發(fā)環(huán)境介紹47-48
- 5.2 系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計(jì)48-51
- 5.3 系統(tǒng)軟件程序設(shè)計(jì)51-63
- 5.3.1 系統(tǒng)主程序設(shè)計(jì)52-54
- 5.3.2 光電檢測(cè)軟件程序設(shè)計(jì)54-55
- 5.3.3 溫控系統(tǒng)程序設(shè)計(jì)55-59
- 5.3.4 數(shù)據(jù)處理59-60
- 5.3.5 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)60-63
- 6 實(shí)驗(yàn)與結(jié)論63-68
- 6.1 露點(diǎn)儀性能測(cè)試實(shí)驗(yàn)63-66
- 6.1.1 露點(diǎn)儀穩(wěn)定性測(cè)試63-64
- 6.1.2 露點(diǎn)儀準(zhǔn)確性測(cè)試64-65
- 6.1.3 露點(diǎn)儀快速性實(shí)驗(yàn)65-66
- 6.2 結(jié)論66-68
- 7 總結(jié)與展望68-70
- 參考文獻(xiàn)70-73
- 個(gè)人簡(jiǎn)歷以及在校期間發(fā)表學(xué)術(shù)論文73-74
- 致謝74
【相似文獻(xiàn)】
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