本文關(guān)鍵詞：Randon變換在區(qū)域結(jié)構(gòu)函數(shù)坍陷中的應(yīng)用

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【摘要】：為了更好地利用區(qū)域結(jié)構(gòu)函數(shù)評價大口徑反射鏡表面面形,引入了Randon變換作為區(qū)域結(jié)構(gòu)函數(shù)坍陷的工具。對于使用Randon變換進行區(qū)域結(jié)構(gòu)函數(shù)坍陷的具體實現(xiàn)方法進行了討論;之后考慮到Zernike多項式可以很好地模擬系統(tǒng)的低階波像差,故利用此方法對于Zernike多項式的區(qū)域結(jié)構(gòu)函數(shù)進行坍陷;然后將此方法應(yīng)用于米級口徑的反射鏡表面面形檢測數(shù)據(jù)以及30m望遠鏡(TMT)三鏡面形仿真數(shù)據(jù),驗證了理論的正確性與方法的可行性。對于大口徑反射系統(tǒng)的設(shè)計、檢測與加工都有較好的指導(dǎo)意義,同時為30m望遠鏡三鏡項目的最終完成提供助力。
【作者單位】： 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所;中國科學院大學;
【關(guān)鍵詞】： 光學設(shè)計 Randon變換 區(qū)域結(jié)構(gòu)函數(shù)坍陷 Zernike多項式
【基金】：中國科學院三期重大科研專項
【分類號】：TH743
【正文快照】： 1引言隨著光電探測系統(tǒng)口徑的不斷增大,相應(yīng)光學器件的檢驗難度也隨之增大。尤其對于大口徑反射鏡這類光學元件,其表面面形的檢測與評價直接影響著其制造精度與成像質(zhì)量[1-11]。結(jié)構(gòu)函數(shù)最初是20世紀在自適應(yīng)光學領(lǐng)域提出的數(shù)學概念,是對于不同尺度的大氣湍流進行評價的有力工

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