本文關(guān)鍵詞：用于大孔徑凸非球面檢測(cè)的部分補(bǔ)償透鏡的優(yōu)化設(shè)計(jì)

  更多相關(guān)文章： 光學(xué)設(shè)計(jì) 部分補(bǔ)償透鏡 大孔徑凸非球面 彌散圓

【摘要】：針對(duì)部分補(bǔ)償法和子孔徑拼接技術(shù)對(duì)大孔徑凸非球面進(jìn)行測(cè)量時(shí),部分補(bǔ)償透鏡的優(yōu)化設(shè)計(jì)是關(guān)鍵技術(shù)之一,基于ZEMAX軟件對(duì)用于大孔徑凸非球面的部分補(bǔ)償透鏡進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì),以波前斜率作為優(yōu)化目標(biāo),通過(guò)直接觀察彌散圓半徑對(duì)全口徑的光線進(jìn)行優(yōu)化。設(shè)計(jì)結(jié)果表明,用結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的單片部分補(bǔ)償透鏡即可實(shí)現(xiàn)對(duì)大孔徑凸非球面的面形測(cè)量,在不同的子孔徑區(qū)域,部分補(bǔ)償系統(tǒng)在理想焦面處的彌散圓最大半徑均小于165μm,滿足設(shè)計(jì)要求,驗(yàn)證了結(jié)合部分補(bǔ)償法和子孔徑拼接技術(shù)測(cè)量大孔徑凸非球面的可行性。
【作者單位】： 北京信息科技大學(xué)光電測(cè)試技術(shù)北京市重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【關(guān)鍵詞】： 光學(xué)設(shè)計(jì) 部分補(bǔ)償透鏡 大孔徑凸非球面 彌散圓
【分類號(hào)】：TN202;;O43
【正文快照】： 引言非球面元件因其特有的優(yōu)點(diǎn)[1-5]正越來(lái)越多地被用于航空、航天、軍事和民用等領(lǐng)域。在眾多應(yīng)用領(lǐng)域中,凸非球面元件是較為常用的核心部件。但凸非球面面形的測(cè)量一直是光學(xué)檢測(cè)中的難點(diǎn),以往一般采用無(wú)像差點(diǎn)法對(duì)其進(jìn)行測(cè)量,但這種方法只能檢驗(yàn)二次曲面凸面,其優(yōu)點(diǎn)是設(shè)計(jì)，

本文編號(hào)：818022