本文關(guān)鍵詞：基于硅漂移探測器的X射線粉末衍射儀探測記錄系統(tǒng)的研究

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【摘要】：研究了提高X射線衍射強(qiáng)度的方法,將硅漂移探測器(SDD)集成在X射線粉末衍射儀的探測記錄系統(tǒng)中,發(fā)展出一種新的X射線粉末衍射線的高效探測與記錄系統(tǒng),它包括SDD探測器、單道脈沖分析器和計(jì)數(shù)電路等部分。測試結(jié)果表明,探測記錄系統(tǒng)能量分辨率高,可以省去石墨單色器,與常規(guī)配備石墨單色器+閃爍/正比探測器的衍射儀相比,衍射強(qiáng)度可提高三到四倍。同時(shí),此探測記錄系統(tǒng)可排除樣品中熒光元素的干擾,且可用于陣列探測器"陣列"效應(yīng)失效的測試(如極圖、In-Plane分析等)。新系統(tǒng)可提升薄膜材料和凝聚態(tài)微納結(jié)構(gòu)分析的水平。
【作者單位】： 清華大學(xué)材料科學(xué)與工程研究院中心實(shí)驗(yàn)室;
【關(guān)鍵詞】： X射線粉末衍射儀 探測和記錄系統(tǒng) 衍射強(qiáng)度 能量分辨率
【分類號】：TH744
【正文快照】： X射線粉末衍射(XRD)儀在材料、地質(zhì)、物理、化學(xué)、真空科學(xué)等學(xué)科及鋼鐵、水泥、醫(yī)藥等企業(yè)中都有著極為廣泛應(yīng)用,是材料的結(jié)構(gòu)表征和分析方法中,應(yīng)用最廣的儀器之一[1]。它是薄膜材料和凝聚態(tài)微納結(jié)構(gòu)分析中必不可少的儀器之一[2-4]。XRD儀的主要性能指標(biāo)是角度準(zhǔn)確度和衍射

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中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條

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本文編號：780300