本文關(guān)鍵詞：真空低溫環(huán)境反射鏡光譜反射率原位測(cè)量技術(shù)

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【摘要】：為了研究真空低溫環(huán)境下定標(biāo)光學(xué)系統(tǒng)光譜反射率測(cè)量技術(shù),搭建了小型離軸拋物面反射鏡的光譜反射率原位測(cè)量試驗(yàn)系統(tǒng)。系統(tǒng)由太陽模擬器、準(zhǔn)直鏡、折疊鏡、離軸拋物面反射鏡、光譜儀、數(shù)采系統(tǒng)等組成。分別在常溫常壓和真空低溫環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量,得到350nm~950nm譜段光譜反射率及變化規(guī)律,常溫常壓、真空低溫、恢復(fù)常溫常壓下系統(tǒng)測(cè)量平均值分別為0.882、0.863和0.883,測(cè)量重復(fù)性±1.1%,不確定度優(yōu)于2.4%。結(jié)果表明,反射鏡光譜反射率在真空低溫環(huán)境下有較明顯的下降,環(huán)境恢復(fù)后,反射率隨之恢復(fù)。
【作者單位】： 北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所;
【關(guān)鍵詞】： 光譜反射率 原位測(cè)量 反射鏡 真空 低溫
【分類號(hào)】：TH74
【正文快照】： 引言反射率是物體表面反射波每秒從界面單位面積帶走的能量與每秒入射到界面單位面積上的能量之比[1],光譜反射率則是由物體不同波長(zhǎng)反射率組成的一個(gè)序列,能夠提供各種物體、材料光學(xué)特性的重要信息,是物體固有的物理特征。鑒于光譜測(cè)量具有分辯物體真實(shí)特性的能力,越來越多

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