發(fā)布時(shí)間：2024-02-21 12:53

　　利用紫外光譜對(duì)物質(zhì)的性質(zhì)及化學(xué)成分的分析已經(jīng)成為一種有效的檢測(cè)手段。例如物質(zhì)在發(fā)生化學(xué)反應(yīng)的同時(shí)會(huì)激發(fā)出光譜,這種光譜主要位于紫外波段,對(duì)該部分光譜進(jìn)行監(jiān)測(cè)分析可以定性、定量的對(duì)化學(xué)反應(yīng)進(jìn)行分析。然而,由于探測(cè)器中硅基底對(duì)于紫外波段光子的吸收,導(dǎo)致紫外光難以在探測(cè)器中產(chǎn)生信號(hào)電荷,因此傳統(tǒng)光譜儀對(duì)紫外波段響應(yīng)非常低,這制約著紫外光譜檢測(cè)的進(jìn)一步發(fā)展。針對(duì)上述的紫外光譜檢測(cè)的需求,本文設(shè)計(jì)了一款便攜式寬波段的紫外-可見(jiàn)光譜儀。其中研究的關(guān)鍵技術(shù)主要有以下兩點(diǎn):自主研制了紫外探測(cè)器,使得探測(cè)器的紫外波段響應(yīng)提高了20%;研究了光譜儀中閃耀光柵的原理,提高了光譜儀器中紫外波段的入射光能量。首先研究光譜儀光路系統(tǒng)中的閃耀光柵原理及衍射理論,分析了閃耀光柵的閃耀波長(zhǎng)對(duì)于光譜儀中紫外波段的影響,降低了紫外波段在光譜儀光路中的能量損失。依據(jù)交叉型Czerny-Turner結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)了便攜式紫外-可見(jiàn)光譜儀的光路。接著研究了熒光薄膜的制備材料和方法,以及測(cè)試熒光薄膜的性能參數(shù)。在正式進(jìn)行鍍膜實(shí)驗(yàn)之前,構(gòu)建了熒光薄膜的數(shù)學(xué)模型,對(duì)薄膜的參數(shù)以及性質(zhì)進(jìn)行驗(yàn)證,為后期制作鍍膜紫外增強(qiáng)CCD做好理論準(zhǔn)備。熒光薄...

【文章頁(yè)數(shù)】：73 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖1交叉非對(duì)稱型Czerny-Turner系統(tǒng)光路圖Fig.1Layoutofcrossed-asymmetricCzerny-TurnersystemGratingGDCCD

圖3優(yōu)化后光譜儀光路Fig.3Optimizedlayoutofthecrossed-asymmetricCzerny-Turnerspectrometer

光電工程DOI:10.12086/oee.2018.180195180195-4寬波段衍射光線都能夠在像面上得到聚焦。將聚焦鏡與像面之間的距離與像面傾角設(shè)為優(yōu)化變量，子午方向與弧矢方向的權(quán)重為1：0，開(kāi)始進(jìn)行優(yōu)化。優(yōu)化后光路圖如圖3所示，從圖中可以看出優(yōu)化后全波段光線近似聚焦在同....

圖4像面點(diǎn)列圖Fig.4Spotdiagramsofimageplane200nm&201.5nm375nm&376.5nm550nm&551nm725nm&726.5nm898.5nm&900nm

光電工程DOI:10.12086/oee.2018.180195180195-4寬波段衍射光線都能夠在像面上得到聚焦。將聚焦鏡與像面之間的距離與像面傾角設(shè)為優(yōu)化變量，子午方向與弧矢方向的權(quán)重為1：0，開(kāi)始進(jìn)行優(yōu)化。優(yōu)化后光路圖如圖3所示，從圖中可以看出優(yōu)化后全波段光線近似聚焦在同....

圖5Y軸方向點(diǎn)列均方根半徑Fig.5RMSspotYversuswavelength

分散，制作鍍膜CCD的分辨率也越差[18]。所以制作鍍膜紫外增強(qiáng)CCD時(shí)，將薄膜蒸鍍到去保護(hù)玻璃后的CCD表面，其紫外響應(yīng)的分辨率幾乎不會(huì)受到影響。制作出鍍膜紫外增強(qiáng)CCD后，使用Newport公司的QE/IPCE測(cè)量套件測(cè)試其響應(yīng)度。使用單色儀和積分球?qū)⒉煌ㄩL(zhǎng)的光分別均勻照射....

本文編號(hào)：3905447