利用軸向掃描的光干涉非球面測(cè)量技術(shù)研究
【學(xué)位授予單位】:南京理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2017
【分類(lèi)號(hào)】:TH74
【圖文】:
在非球面檢測(cè)方法中,常見(jiàn)的有非干涉法和干涉法。目前在國(guó)內(nèi)比較常用的非干涉逡逑法主要是面型輪廓法,英國(guó)的Taylor邋Hobson公司制造的PGI系列掃描探針輪廓儀是較逡逑早出現(xiàn)的接觸式測(cè)量?jī)x器,圖1.1為掃描探針輪廓儀裝置圖。近些年來(lái)隨著產(chǎn)品的發(fā)展,逡逑PGI系列輪廓儀能對(duì)多種面形的光學(xué)元件進(jìn)行檢測(cè),包括自由曲面和有較大睹度的光學(xué)逡逑非球面,最大測(cè)量口徑為200mm,且表面粗趟度分辨率可達(dá)0.2nmPq。但是接觸式的測(cè)逡逑量容易劃傷光學(xué)儀器的表面,而且一次測(cè)量只能進(jìn)斤單一方向的輪廓描繪,若要得到整逡逑體的面形信息,則需要進(jìn)行多次的掃描,耗費(fèi)較長(zhǎng)的檢測(cè)時(shí)間,效率極低[27]。逡逑與非干涉的接觸式測(cè)量相比,干涉測(cè)量法有著較高的測(cè)量精度、非接觸的測(cè)量更能逡逑有效的保護(hù)光學(xué)表面,而且能夠?qū)崿F(xiàn)全口徑的測(cè)量,因此干涉法測(cè)量己經(jīng)越來(lái)越多的應(yīng)逡逑用到高精度非球面的檢測(cè)中。光學(xué)非球面的干涉法測(cè)量主要包括零位干涉法和非零位干逡逑涉法。逡逑1.2.1零位檢測(cè)逡逑在干涉測(cè)量中,當(dāng)待測(cè)光學(xué)元件與參考波面完全匹配,光線經(jīng)過(guò)待測(cè)件反射后沿原逡逑路返回
H'邋Jai邐^逡逑圖1.1邋Taylor邋Hobson掃描探針輪廓儀逡逑在非球面檢測(cè)方法中,常見(jiàn)的有非干涉法和干涉法。目前在國(guó)內(nèi)比較常用的非干涉逡逑法主要是面型輪廓法,英國(guó)的Taylor邋Hobson公司制造的PGI系列掃描探針輪廓儀是較逡逑早出現(xiàn)的接觸式測(cè)量?jī)x器,圖1.1為掃描探針輪廓儀裝置圖。近些年來(lái)隨著產(chǎn)品的發(fā)展,逡逑PGI系列輪廓儀能對(duì)多種面形的光學(xué)元件進(jìn)行檢測(cè),包括自由曲面和有較大睹度的光學(xué)逡逑非球面,最大測(cè)量口徑為200mm,且表面粗趟度分辨率可達(dá)0.2nmPq。但是接觸式的測(cè)逡逑量容易劃傷光學(xué)儀器的表面,而且一次測(cè)量只能進(jìn)斤單一方向的輪廓描繪,若要得到整逡逑體的面形信息,則需要進(jìn)行多次的掃描,耗費(fèi)較長(zhǎng)的檢測(cè)時(shí)間,效率極低[27]。逡逑與非干涉的接觸式測(cè)量相比
圖1.3邋Offher補(bǔ)償鏡示意圖逡逑
【相似文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):2775940
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