【摘要】：Offner光學(xué)成像系統(tǒng)是一種經(jīng)典的三反光學(xué)系統(tǒng),最早是Abe.Offner提出。目前普遍應(yīng)用于Offner凸面光柵光譜儀和中繼望遠成像系統(tǒng)中,尤其在寬譜段遙感儀器中應(yīng)用優(yōu)勢明顯。因此,將Offner光學(xué)成像系統(tǒng)與空間外差光譜技術(shù)結(jié)合,可同時滿足超光譜與寬譜段的空間遙感探測需求�？臻g外差光譜技術(shù)具有超光譜分辨率的特性,適用于痕量氣體的精細測量、大氣層中水汽的探測、星際礦物質(zhì)研究等應(yīng)用,在遙感應(yīng)用領(lǐng)域具有重要意義。近年來,寬譜段空間外差技術(shù)的研究,以及基于該技術(shù)在中高層大氣風(fēng)場、天文觀測等領(lǐng)域的應(yīng)用成為研究熱點�？臻g外差光譜儀的成像系統(tǒng)用于對有限遠物距干涉條紋進行比例縮放,成像于探測器焦面處。而成像系統(tǒng)的調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)曲線、畸變、色差等因素直接影響探測器所采集的干涉圖質(zhì)量,進而影響復(fù)原光譜的信噪比和精度。同時,空間外差光譜儀大光通量以及寬波段光柵衍射角度范圍要求成像系統(tǒng)具有較大物方數(shù)值孔徑。因此,成像系統(tǒng)的設(shè)計具有一定的難度,其成像質(zhì)量直接影響空間外差光譜儀獲取的原始干涉圖質(zhì)量,進而影響復(fù)原光譜的質(zhì)量。研究表明,Offner光學(xué)成像系統(tǒng)對比于傳統(tǒng)透射式系統(tǒng)具有適用波段范圍寬、初級像差小、物方數(shù)值孔徑大等優(yōu)點。本論文的主要工作有以下幾個方面:(1)結(jié)合空間外差技術(shù)特點和要求,給出一種Offner光學(xué)成像系統(tǒng)的設(shè)計方法,利用光學(xué)軟件完成了系統(tǒng)的光線追跡,對該系統(tǒng)進行了像差校正與優(yōu)化,最后對系統(tǒng)進行了成像質(zhì)量評估和公差分析。(2)以系統(tǒng)光學(xué)設(shè)計的參數(shù)為輸入條件,運用機械設(shè)計軟件結(jié)合裝調(diào)方案對Offner光學(xué)成像系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)進行設(shè)計。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)主要包含折軸鏡組件、三反射鏡組件和縮放比透鏡組件。結(jié)構(gòu)設(shè)計結(jié)果可以滿足該系統(tǒng)公差分析對各元件的精度。(3)對設(shè)計的空間外差光譜儀的Offner成像進行了雜散光分析,設(shè)計了合理的消雜散光光闌和內(nèi)遮光罩,對主要雜光來源進行抑制。利用雜散光分析軟件對光學(xué)系統(tǒng)進行仿真,通過計算得到光學(xué)系統(tǒng)的點源透射比(PST),并運用最小二乘法對PST進行曲線擬合。由雜光系數(shù)和點源透射比的公式,可算出Offner成像的雜光系數(shù)。計算結(jié)果表明,提出的抑制雜散光的優(yōu)化結(jié)構(gòu)方案可滿足指標(biāo)要求。Offner成像系統(tǒng)具有良好的成像質(zhì)量,尤其適用于深紫外、紅外以及寬波段應(yīng)用場合中透射材料受限的空間外差光譜儀中。兩種技術(shù)的結(jié)合可以提高整個光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)效率,滿足超光譜、寬譜段、高通量的遙感探測需求。
【學(xué)位授予單位】：中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2017
【分類號】：TH744.1

【參考文獻】

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3 李s，

本文編號：2707392