本文選題：陽(yáng)極溶解 + 厚度測(cè)量�。� 參考：《電鍍與精飾》2014年06期

【摘要】：回顧了傳統(tǒng)庫(kù)侖測(cè)厚技術(shù)存在的問(wèn)題,特別是因環(huán)境溫度變化導(dǎo)致測(cè)量電位變化,進(jìn)而影響測(cè)量終點(diǎn)的判定,導(dǎo)致測(cè)量誤差。全面介紹了電腦智能型庫(kù)侖測(cè)厚儀的進(jìn)步和發(fā)展,從降低測(cè)量誤差和增大測(cè)量范圍列舉了應(yīng)用實(shí)例,并展望了今后測(cè)厚技術(shù)的發(fā)展。
[Abstract]:The problems existing in the traditional Coulomb thickness measurement technique are reviewed, especially the change of measuring potential due to the change of ambient temperature, which will affect the determination of the end point of measurement and lead to the measurement error. The progress and development of the computer intelligent Coulomb thickness gauge are introduced in this paper. The application examples of reducing the measurement error and increasing the measurement range are given, and the development of the thickness measurement technology in the future is prospected.
【作者單位】： 武漢材料保護(hù)研究所;武漢恒順材料表面技術(shù)中心;
【分類號(hào)】：TH821.1

【參考文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前1條

1 凌國(guó)偉;電腦型庫(kù)侖測(cè)厚儀問(wèn)答[J];材料保護(hù);2005年09期

【相似文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前10條

1 丁慎璋;李仲才;李端印;;用電解刻線深度控制量規(guī)磨損極限尺寸的檢定方法[J];計(jì)量技術(shù);1983年05期

2 ;[J];;年期

3 ;[J];;年期

4 ;[J];;年期

5 ;[J];;年期

6 ;[J];;年期

7 ;[J];;年期

8 ;[J];;年期

9 ;[J];;年期

10 ;[J];;年期

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本文編號(hào)：1987994