本文關鍵詞：工業(yè)X-CT用新型X射線探測器性能的模擬研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

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重慶大學碩士學位論文工業(yè)X-CT用新型X射線探測器性能的模擬研究姓名:周密申請學位級別:碩士專業(yè):模式識別與智能系統(tǒng)指導教師:魏彪20040510重慶大學碩士學位論文中文摘要摘要工業(yè)X.CT(IndustrialX.putedTomography,ICT)是工業(yè)用x射線計算機層析成像或工業(yè)用x射線計算機斷層掃描成像的簡稱。自誕生以來,其發(fā)展和應用令人矚目,特別是在無損檢測與無損評價領域顯示出了其獨特的優(yōu)點,西方發(fā)達國家均投入大量的人力、物力對其進行研究。誠然,計算機圖像技術的飛速發(fā)展對工業(yè)X.CT起到了極其重要的作用,但另一個決定性因素還在于x射線探測器技術的進步。X射線探測器的技術指標限定了這些設備最后的技術水平。在工業(yè)X—CT系統(tǒng)中,探測器技術是工業(yè)X-CT系統(tǒng)的三大關鍵技術之一(探測器技術、圖像重建及處理技術和機械與自動控制技術)。探測器技術就是如何把x射線與被檢測物作用后,將包含有被檢測物信息的射線信號轉(zhuǎn)化成為可進行處理的電信號。該測量技術將直接影響到工業(yè)X.CT系統(tǒng)的性能指標及應用效果。本文詳細研究了國內(nèi)外工業(yè)X.CT中探測器的設計方案,對x射線管為射線源,基于CsI(T1)D(ChargeCoupledDevice)器件,采用光纖和光纖面板進行光耦合及傳輸,以扇形束線陣掃描方式實現(xiàn)對x射線探測... 內(nèi)容來自轉(zhuǎn)載請標明出處.

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