本文關(guān)鍵詞：二次離子質(zhì)譜儀中二次中性粒子空間分布研究

  更多相關(guān)文章： 二次離子質(zhì)譜(SIMS) 飛秒激光后電離 中性粒子

【摘要】：為提高二次離子質(zhì)譜儀(secondary ion mass spectrometer,SIMS)的靈敏度,引入了飛秒激光電離一次離子轟擊濺射產(chǎn)生的二次中性粒子。實(shí)驗(yàn)以純銀、純銅為目標(biāo)樣品,利用自主研制的飛行時(shí)間質(zhì)譜儀分析二次后電離的離子,研究二次中性粒子的后電離效率和空間分布。結(jié)果表明:飛秒激光電離技術(shù)可將儀器的靈敏度提高70倍以上;飛秒激光電離出的107 Ag+和109 Ag+的同位素豐度比值誤差為0.8%;二次中性粒子的空間分布符合Maxwell-Boltzmann模型。該結(jié)果可為在設(shè)計(jì)方法上提高SIMS儀器靈敏度提供依據(jù)。
【作者單位】： 吉林大學(xué)儀器科學(xué)與電氣工程學(xué)院;中國(guó)地質(zhì)科學(xué)院地質(zhì)研究所北京離子探針中心;大連民族大學(xué);
【基金】：國(guó)家重大科學(xué)儀器設(shè)備開發(fā)專項(xiàng)《同位素地質(zhì)學(xué)專用TOF-SIMS科學(xué)儀器》之任務(wù)二(2011YQ05006902)資助
【分類號(hào)】：TH843
【正文快照】： 二次離子質(zhì)譜儀(secondary ion massspectrometer,SIMS)作為一種高效的表面分析儀器,可獲取樣品表面數(shù)微米范圍內(nèi)精確的同位素和化學(xué)組成信息,是一種無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行化學(xué)處理和近乎無(wú)損傷的分析技術(shù),適用于地質(zhì)樣品的分析[1-2]。SIMS采用高速離子束轟擊樣品表面,其離子能量一般

【相似文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：1303663