本文關(guān)鍵詞：DLS納米粒度儀噪聲剔除方法探討與計量檢定

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【摘要】：為提高動態(tài)光散射(dynamic light scattering,DLS)納米粒度儀測量準確度與穩(wěn)定性、適應JJG 1104——2015《動態(tài)光散射粒度分析儀檢定規(guī)程》要求,通過系統(tǒng)分析儀器噪聲來源與影響程度,將接收光強信號分為3部分,推導出光強信號自相關(guān)函數(shù)的數(shù)學式,并從其物理意義出發(fā),提出針對性的噪聲剔除方法。通過搭建儀器軟硬件平臺進行實驗,可以看出儀器示值誤差7%,重復性為0.9%,表明噪聲剔除方法有效,能滿足規(guī)程要求。
【作者單位】： 廣東省計量科學研究院廣東省現(xiàn)代幾何與力學計量重點實驗室;華南師范大學物理與電信工程學院;
【基金】：國家重大科學儀器設備開發(fā)專項(31-311206YQH)
【分類號】：TH74
【正文快照】： 0引言動態(tài)光散射技術(shù)是研究亞微米、納米顆粒粒徑及其分布的重要手段[1-2]。但由于光強散射信號較微弱,極易受噪聲影響,小粒徑顆粒更難準確測量。因此,國家質(zhì)檢總局發(fā)布檢定規(guī)程JJG 1104——2015,對DLS粒度儀的準確度與重復性等性能指標作出規(guī)定[3]。為使儀器能夠滿足要求,提

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本文編號：1298076