本文關(guān)鍵詞：基于檢測光纖的漫射高光譜采集的Monte Carlo仿真

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【摘要】：從漫射高光譜中可以獲得被測物體成分、結(jié)構(gòu)及其分布等信息。采用光纖光譜儀獲取漫射高光譜是一種常用的方法。Monte Carlo方法在研究光在渾濁介質(zhì)的傳播方面得到了廣泛的應(yīng)用。然而,使用Monte Carlo方法研究漫射高光譜時,必須考慮實際的檢測條件對信號采集的影響。將光纖參數(shù)引入到Monte Carlo模型中,研究了光纖參數(shù)對被檢測光學(xué)信號的影響。仿真結(jié)果表明,孔徑角和半徑增大,檢測的漫射高光譜隨之增大,而光纖與被測物質(zhì)表面的距離小于1mm時對漫射高光譜的影響在一定程度上可以忽略。進一步研究發(fā)現(xiàn)存在固定的修正系數(shù)使不同孔徑角的光纖所采集的漫射高光譜轉(zhuǎn)化為孔徑角為π/2的光纖對應(yīng)的信號。同時,得到了實際光纖孔徑角范圍內(nèi)的修正系數(shù)擬合曲線。不同半徑的光纖通過面積歸一化可以得到很好的一致性。研究檢測光纖參數(shù)對漫射高光譜的影響對實際測量有重要的指導(dǎo)意義,而且不同光纖所對應(yīng)的檢測結(jié)果可以通過修正系數(shù)和面積歸一化進行移植。
【作者單位】： 天津大學(xué)精密測試技術(shù)及儀器國家重點實驗室;河北工業(yè)大學(xué)電氣工程學(xué)院電磁場與電器可靠性省部共建重點實驗室;天津師范大學(xué)電子與通信工程學(xué)院;
【基金】：國家自然科學(xué)基金項目(30973964) 天津市應(yīng)用基礎(chǔ)及前沿技術(shù)研究計劃(11JCZDJC17100)資助
【分類號】：TH744.1
【正文快照】： 引言將寬帶光源輸出的細光束照射到具有一定大小的渾濁介質(zhì)表面,由于存在吸收和散射作用,可以在介質(zhì)表面的不同位置獲得介質(zhì)的漫反射光譜和漫透射光譜,即漫射高光譜。漫射高光譜[1]攜帶了大量被測物質(zhì)內(nèi)部的信息,可以通過分析得到被測物質(zhì)的化學(xué)成分[2]、組織結(jié)構(gòu)[3]及其空間，

本文編號：1279237