本文關(guān)鍵詞：譜域光學(xué)相干層析測(cè)量技術(shù)研究

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【摘要】：介紹了一種基于譜域光學(xué)相干層析成像的光學(xué)測(cè)量技術(shù),對(duì)其基本原理進(jìn)行了分析,并通過平面鏡位移實(shí)驗(yàn)對(duì)該理論進(jìn)行了驗(yàn)證。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該方法測(cè)得的數(shù)值與理論值基本一致,表明譜域光學(xué)相干層析成像技術(shù)的測(cè)量結(jié)果真實(shí)可靠,可以為高散射物體的表面輪廓測(cè)量和低散射物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)成像提供技術(shù)支撐。
【作者單位】： 渭南師范學(xué)院物理與電氣工程學(xué)院;
【基金】：陜西省軍民融合研究基金項(xiàng)目(13JMR18) 陜西省教育廳科學(xué)研究計(jì)劃項(xiàng)目(12JK0672) 陜西省科技廳國(guó)際交流合作項(xiàng)目(2013KW04-03)
【分類號(hào)】：O439;TH744.3
【正文快照】： 光學(xué)相干層析成像(Optical coherence tomogra-phy,簡(jiǎn)稱OCT)是一種極具潛力的高分辨率光學(xué)成像技術(shù),具有非侵入和無(wú)損傷的優(yōu)點(diǎn)[1]。OCT技術(shù)利用低相干的邁克爾遜干涉儀,實(shí)現(xiàn)參考光和物體內(nèi)部的背向散射光之間的干涉,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對(duì)物體結(jié)構(gòu)的層析成像[2]。與超聲波等其他成像技術(shù)

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本文編號(hào)：1188213