本文關(guān)鍵詞：多目標(biāo)復(fù)合半實物仿真系統(tǒng)的雜散光分析

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【摘要】：雜散光分析已經(jīng)成為光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計中必須考慮的關(guān)鍵因素之一�；诿商乜宸�,利用TracePro軟件進行建模仿真,對多目標(biāo)復(fù)合半實物仿真系統(tǒng)的雜散光進行了分析。仿真結(jié)果表明仿真系統(tǒng)的雜散光主要來自兩方面:一是擴束光束經(jīng)主反射鏡邊緣反射的未復(fù)合光束;另一個是由于仿真系統(tǒng)關(guān)鍵元件自發(fā)輻射產(chǎn)生的雜散光。根據(jù)雜散光系數(shù)和元件制冷溫度的關(guān)系得出:當(dāng)制冷溫度為200K時,仿真系統(tǒng)的雜散光系數(shù)小于2%。分析結(jié)果對導(dǎo)彈的多目標(biāo)復(fù)合半實物仿真系統(tǒng)的設(shè)計具有重要的指導(dǎo)意義。
【作者單位】： 哈爾濱工業(yè)大學(xué)空間光學(xué)工程研究中心;
【基金】：航空科學(xué)基金重點實驗室類資助項目(20130177003)
【分類號】：O435;TH74
【正文快照】： 引言紅外制導(dǎo)導(dǎo)彈具有打擊精度高、抗干擾能力強、隱蔽性好、性價比高等特點,一直以來都受到各國軍方的青睞。隨著紅外制導(dǎo)技術(shù)的發(fā)展,應(yīng)用于紅外制導(dǎo)導(dǎo)彈的半實物仿真系統(tǒng)的研制也越來越受到重視[1]。從工程角度來講,基于半實物仿真系統(tǒng)的半實物仿真試驗是導(dǎo)彈研制過程中不可

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本文編號：1161932