本文關鍵詞：小孔徑采樣在大口徑系統(tǒng)主鏡裝調中的應用

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【摘要】：為了滿足大口徑光學—紅外系統(tǒng)主鏡的檢測裝調,引入了小孔徑采樣方法對于系統(tǒng)主鏡的低階誤差進行分析,進而對系統(tǒng)的裝調進行指導。隨著光學-紅外系統(tǒng)的口徑加大,由于檢測成本等原因,之前在裝調時使用的與制造過程中相同的檢測方法已經(jīng)不再適用。本文首先對于小孔徑掃描的基本原理做出了介紹,之后提出了實現(xiàn)本文方法的硬件結構,最后通過數(shù)值仿真來驗證本文方法的正確性與可行性。對于大口徑光學-紅外系統(tǒng)主鏡的裝調檢測有著較好的指導作用。
【作者單位】： 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所;
【基金】：中科院三期重大科研專項資助
【分類號】：TH743
【正文快照】： 1引言隨著光學-紅外探測系統(tǒng)口徑的不斷增加,相應器件的檢驗難度也隨之加大。尤其對于大口徑反射鏡之類的光學元件,其表面面形的檢測與評價直接影響著其制造精度與成像質量。在實際的工程應用之中,對于大口徑的反射元件,一般都會留有若干調整環(huán)節(jié)。但是這些環(huán)節(jié)的空間帶寬有限

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